[发明专利]光信息记录再现方法和装置

权利要求书

1.一种光信息记录再现装置，将叠加了信息的信号光与参考光的干涉图案作为全息图记录在光信息记录介质中，并从所述光信息记录介质再现信息，其特征在于，包括：

用于出射光的光源部；

将所述光分离为参考光和信号光的光学分离部；

在所述信号光中叠加信息的空间光调制部；和

对使用所述参考光再现的再现像进行检测的光检测部，其中，

在所述光信息记录介质中记录关于所述空间光调制部的缺陷的信息。

2.如权利要求1所述的光信息记录再现装置，其特征在于：

所述光信息记录介质中记录的关于空间光调制部的缺陷的信息，是缺陷的位置。

3.如权利要求1所述的光信息记录再现装置，其特征在于：

所述光信息记录介质中记录的关于空间光调制部的缺陷的信息，是缺陷的位置和种类。

4.如权利要求1所述的光信息记录再现装置，其特征在于：

所述光信息记录介质中记录的关于空间光调制部的缺陷的信息，是缺陷的位置和用于确定由所述装置进行了记录的范围的信息。

5.如权利要求1所述的光信息记录再现装置，其特征在于：

在从所述光信息记录介质再现信息之前，

对所述光信息记录介质中记录的关于空间光调制部的缺陷的信息进行再现，

根据所述再现的关于空间光调制部的缺陷的信息，

在从所述光信息记录介质再现信息时切换进行再现信号处理或纠错处理。

6.一种光信息记录再现装置，将叠加了信息的信号光与参考光的干涉图案作为全息图记录在光信息记录介质中，并从所述光信息记录介质再现信息，其特征在于，包括：

用于出射光的光源部；

将所述光分离为参考光和信号光的光学分离部；

在所述信号光中叠加信息的空间光调制部；

对使用所述参考光再现的再现像进行检测的光检测部；和

非易失性存储器部，其中，

在所述非易失性存储器部中保存关于所述光检测部的缺陷的信息。

7.如权利要求6所述的光信息记录再现装置，其特征在于：

所述非易失性存储器部中保存的关于光检测部的缺陷的信息，是缺陷的位置。

8.如权利要求6所述的光信息记录再现装置，其特征在于：

所述非易失性存储器部中保存的关于光检测部的缺陷的信息，是缺陷的位置和种类。

9.如权利要求6所述的光信息记录再现装置，其特征在于：

根据所述非易失性存储器部中保存的关于光检测部的缺陷的信息，

在从所述光信息记录介质再现信息时切换进行再现信号处理或纠错处理。

10.一种光信息记录再现装置，将叠加了信息的信号光与参考光的干涉图案作为全息图记录在光信息记录介质中，并从所述光信息记录介质再现信息，其特征在于，包括：

用于出射光的光源部；

将所述光分离为参考光和信号光的光学分离部；

在所述信号光中叠加信息的空间光调制部；

对使用所述参考光再现的再现像进行检测的光检测部；和

非易失性存储器部，其中，

在所述非易失性存储器部中保存关于所述空间光调制部的缺陷的信息。

11.如权利要求10所述的光信息记录再现装置，其特征在于：

根据所述非易失性存储器部中保存的关于空间光调制部的缺陷的信息，

在对所述光信息记录介质记录信息时切换进行交错处理。

12.一种光信息记录再现装置，将叠加了信息的信号光与参考光的干涉图案作为全息图记录在光信息记录介质中，并从所述光信息记录介质再现信息，其特征在于，包括：

用于出射光的光源部；

将所述光分离为参考光和信号光的光学分离部；

在所述信号光中叠加信息的空间光调制部；和

对使用所述参考光再现的再现像进行检测的光检测部，其中，

从所述光信息记录介质进行多个信息的再现，

根据所述光检测部的按各像素检测出的信号强度的平均值来检测光检测部的缺陷，或者，

根据进行了重采样处理的信息的按各像素检测出的信号强度的平均值来检测空间光调制部的缺陷。