[发明专利]一种微型光纤氢气传感装置及测量方法无效

专利信息
申请号: 201310187429.1 申请日: 2013-05-20
公开(公告)号: CN103308451A 公开(公告)日: 2013-09-18
发明(设计)人: 周传德;黎泽伦;邓显玲;唐一科 申请(专利权)人: 重庆科技学院
主分类号: G01N21/17 分类号: G01N21/17;G01N21/55
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 401331 重*** 国省代码: 重庆;85
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 微型 光纤 氢气 传感 装置 测量方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及的是一种微型光纤氢气传感装置及测量方法。

背景技术

光纤氢气传感器与传统的氢气传感器相比具有体积小、重量轻、电绝缘性、灵敏度高、频带宽、动态范围大、抗电磁干扰等众多优点。目前,对氢气的检测技术重点应用主要有两方面:一是监测储氢容器周围环境气氛中含氢浓度的变化,从而诊断可能发生的氢气渗透、泄漏和失效程度;二是监测特定环境中因金属腐蚀而发生的环境气氛中含氢浓度的变化。传统的气敏薄膜的传感器结构复杂,受电磁波干扰大,不便用于远距离测试,不适合于一些不可加电的场所应用。

在一些特殊领域内,氢气产生的部位多数在部组件之间的间隙内,且需要长时间连续监测,要求传感器具有较好的稳定性和可靠性,传统的氢敏气传感器不能满足以上要求,而光纤氢传感器耐腐蚀性好、抗干扰能力强,适合长距离传输。目前,世界各国对此投入了大量研究。

WO3薄膜是一种重要的功能材料因具有良好的电致变色气致变色光致变色电化学性能而得到广泛的研究和应用,尤其是其气致变色性能在气体传感器方面有广阔的应用前景.大量研究表明,三氧化钨有着良好的气致变色效应,可用作多种气体的传感材料,当WO3掺杂Pt或Pd后,对H2有着高度的选择响应性能。因此,近年来对WO3氢敏传感器件的研究受到学术界和工业界的极大关注。

发明内容

本发明针对现有技术的不足提供一种微型光纤氢气传感装置及测量方法。

一种微型光纤氢气传感装置,包括光源(1)、输入光纤(2)和传感探头,传感探头包括准直器(3)和镀有Pt/WO3薄膜的探头(4);当光源(1)将光线射出,经由输入光纤(2),光线再经准直器(3),将单光源发送的单条光变为一组平行光;镀有Pt/WO3薄膜的探头(4)将敏感到被测对象中的氢气,使得输入光信号的包括光强、反射率在内的光学特征发生变化,经Pt/WO3薄膜反射回来的光经由输出光纤(5)传递到探测器(6),采集到输出信号,信号分析仪(7)接收到输出信号,并利用频谱分析软件分析输出信号的包括光强、反射率在内的光学特征,从而确定被测对象中的氢气含量。

根据所述的微型光纤氢气传感装置进行测量的测量方法,当光源(1)将光线射出,经由输入光纤(2),光线再经准直器(3),将单光源发送的单条光变为一组平行光;镀有Pt/WO3薄膜的探头(4)将敏感到被测对象中的氢气,使得输入光信号的包括光强、反射率在内的光学特征发生变化,经Pt/WO3薄膜反射回来的光经由输出光纤(5)传递到探测器(6),采集到输出信号,信号分析仪(7)接收到输出信号,并利用频谱分析软件分析输出信号的包括光强、反射率在内的光学特征,从而确定被测对象中的氢气含量。

本发明利用了特殊传感探头,特殊传感探头需要镀上Pt和WO3的复合薄膜,为了获得更明显的输出,还要设置的准直器,同时足够的小,以满足微间隙测量的需要。信号分析仪根据获得的输出信号完成光强、反射率等光学特性分析,为确定氢气浓度提供依据。

附图说明

图1为本发明微型光纤氢气传感装置的结构示意图;

图2为本发明传感探头结构示意图;

具体实施方式

以下结合具体实施例,对本发明进行详细说明。

如图1所示微型光纤氢气传感装置的结构示意图,包括光源1、输入光纤2和传感探头,传感探头包括准直器3和镀有Pt/WO3薄膜的探头4;当光源1将光线射出,经由输入光纤2,入射光再经准直器3,将单光源发送的单条光变为一组平行光,以增强输出效果。此时,镀有Pt/WO3薄膜的探头4将敏感到被测对象中的氢气,使得输入光信号的光强、反射率等光学特征发生不同程度的变化,经Pt/WO3薄膜反射回来的光经由输出光纤5传递到探测器6,采集到输出信号,信号分析仪7接收到输出信号,并利用频谱分析软件分析输出信号的光强、反射率等光学特征,从而确定被测对象中的氢气含量。信号分析仪主要利用计算机及安装的常用频谱分析软件,把探测器采集的输出信号传送到频谱分析工作空间,频谱分析软件将利用积分原理生成光强、反射率等特征曲线,再调用标准曲线进行比较,最后进行量化分析。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于重庆科技学院,未经重庆科技学院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310187429.1/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top