[发明专利]测试信号供应设备和半导体集成电路

说明书

技术领域

本发明涉及一种用于通过将测试信号供应到外部负载来测量阻抗的技术。而且，本发明涉及一种用于根据外部负载来调整输出信号的幅度的技术。

背景技术

在放大声音信号并且将放大的信号输出到外部负载的声音输出电路中，测量外部负载的阻抗并且根据该外部负载的测量值在声音信号之间进行切换的声音输出电路是已知的（JP-A-2003-179441）。作为外部负载被连接的扬声器或头戴式耳机能够具有4Ω、8Ω、16Ω或32Ω的阻抗。在常规技术中，因为根据连接到声音输出电路的外部负载来切换声音信号，所以技术具有能够预先防止作为外部负载连接到声音输出电路的设备由于过度的输入而被损坏的优点。

同时，认为测试信号被供应到外部负载以测量外部负载的阻抗。在该情况下，输出信号和测试信号被切换以被供应到外部负载。

然而，从对外部负载的保护的观点看，通常为，输出信号通过信号放大设备中的诸如保护电阻器等的内部负载而被供应到外部负载。在该情况下，当通过内部负载将测试信号供应到外部负载时，出现要测量内部负载和外部负载的总阻抗而使得外部负载的阻抗没有被准确地测量的问题。

而且，在放大输入信号并且将放大的信号输出到外部负载的信号放大电路中，其中测试信号被供应到外部负载并且确定该外部负载是立体声插头还是单声道插头的技术是已知的（JP-B-4182802）。在该技术中，测试信号的频率被设置为可听频带外的高频而使得用户不会听到该测试信号的声音。

作为外部负载被连接的扬声器或头戴式耳机具有电抗组件，使得其阻抗由于频率中的改变而变化。因此，当测试信号被设置为可听频带外的高频时，高频中的阻抗可能相比可听频带中的阻抗发生偏离。因此，不能准确地获得所需可听频带中的阻抗。此外，测试信号可能在外部负载中被衰减，使得可能变得难以以高SN比来测量阻抗。此外，有必要将用于生成测试信号的电路的频率特性向上扩展到可听频带外的高频，使得有必要使诸如晶体管的构成信号放大电路的组件对应于高频。

发明内容

本发明的目的在于根据外部负载的阻抗来调整输出信号的幅度。而且，本发明的目的在于，使得允许用户不知道即使测试信号的频率没有被设置为可听频带外的高频时的情况下，能够测量所述外部负载的阻抗。

为了实现上述目的，根据本发明，提供了一种测试信号供应设备，所述测试信号供应设备包括：

第一外部端子；

第二外部端子，所述第二外部端子被施加有预定电势；

内部负载；

第一端子，所述第一端子通过内部负载连接到第一外部端子；

第二端子，所述第二端子在不通过内部负载的情况下连接到第一外部端子；

测试信号生成部，所述测试信号生成部生成测试信号，并且将所述测试信号供应到第二端子；

检测部，所述检测部检测测试信号的幅度；以及

控制部，所述控制部基于所检测到的测试信号的幅度来测量连接到第一外部端子和第二外部端子的外部负载的阻抗。

例如，所述测试信号供应设备进一步包括：

放大部，所述放大部放大输入信号并且将输出信号输出到第一端子，

其中，所述控制部基于所测量的外部负载的阻抗来控制放大部的增益。

例如，所述测试信号供应设备进一步包括：

电阻器，所述电阻器具有连接到测试信号生成部的一端和连接到第二端子的另一端，

其中，所述检测部检测测试信号在该电阻器的一端和另一端中的至少一个处的幅度。

例如，在测试信号生成部输出测试信号的测试时间段期间，所述控制部控制放大部，使得放大部的输出阻抗处于高阻抗态，并且在除了所述测试时间段之外的时间段期间，控制部控制测试信号生成部，使得该测试信号生成部的输出阻抗处于高阻抗态，并且控制放大部以将输出信号输出到第一端子。

例如，所述预定电势是接地电势。

例如，测试信号具有包含余弦波的一个波长的波形。

例如，测试信号的波形由该余弦波中的上部波峰到后一上部波峰的部分形成。

例如，输入信号是声音信号，并且测试信号具有比可听频带的最高频率更低的频率。

根据本发明，还提供了一种半导体集成电路，包括：

第一端子，所述第一端子通过内部负载连接到第一外部端子；

第二端子，所述第二端子在不通过内部负载的情况下连接到第一外部端子；

测试信号生成部，所述测试信号生成部生成测试信号，并且将所述测试信号供应到第二端子；