[发明专利]利用天线谐振频率测量物质含水率的方法及测量装置

权利要求书

1.利用天线谐振频率测量物质含水率的方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤一、将由窄带天线构成的天线传感器置于介电常数已知的物质中进行定标校准，测量该窄带天线与不同介电常数相对应的谐振频率，根据相对应的介电常数与谐振频率的数据获取该窄带天线的谐振频率与物质等效介电常数间的拟合公式：

f=a+becϵr+d]]>

拟合公式中的f为测量得到的窄带天线的谐振频率，f＞30MHz，ε_r为外围介质的等效介电常数，a、b、c、d均为常数，前述常数与窄带天线的具体结构相关；

步骤二、将天线传感器放入待测量物质中，测量该窄带天线的谐振频率；

步骤三、根据测量得到的窄带天线谐振频率，利用步骤一中获得的拟合公式计算出待测量物质的等效介电常数；

步骤四、根据步骤三计算出的待测量物质的等效介电常数，利用等效介电常数与含水率的关系式计算出待测量混合物的含水率。

2.使用如权利要求1所述方法测量物质含水率的测量装置，其特征在于，包括：

由窄带天线构成的天线传感器；

网络分析仪；

所述天线传感器通过同轴连接器与网络分析仪连接。

3.根据权利要求2所述的测量装置，其特征在于：所述天线传感器还包括金属屏蔽筒，所述窄带天线设置于所述金属屏蔽筒内。

3、根据权利要求3所述的测量装置，其特征在于：所述窄带天线沿所述金属屏蔽筒的径向设置于所述金属屏蔽筒内。

4.根据权利要求4所述的测量装置，其特征在于：所述窄带天线为单振子天线。

5.根据权利要求2所述的测量装置，其特征在于：所述窄带天线为对称振子天线或单振子天线。

6.根据权利要求2所述的测量装置，其特征在于：所述窄带天线外设置有保护介质层。

7.根据权利要求3所述的测量装置，其特征在于：所述金属屏蔽筒内周壁上设置有环氧树脂保护层。