[发明专利]行程量检测装置

权利要求书

1.一种行程量检测装置，用于检测相对于保持部（80）在假想直线（Lx）上移动的受测对象（61）的位置，所述行程量检测装置包括：

磁轭（11、12、13、14、15），其接附到所述受测对象（61）和所述保持部件（80）中的一个，所述磁轭（11、12、13、14、15）由磁性材料制造为管形，所述磁轭（11、12、13、14、15）具有突出部（115、125、135、14、155），其沿着垂直于假想直线（Lx）的方向向所述磁轭（11、12、13、14、15）的外侧突出，所述突出部（115、125、135、14、155）具有顶部（116、126、136、146、156），沿垂直于所述假想直线（Lx）的方向到所述假想直线（Lx）的距离在所述顶部（116、126、136、146、156）处最大；

磁通量产生部（20），其接附到所述受测对象（61）和所述保持部件（80）中的另一个，所述磁通量产生部（20）位于所述磁轭（11、12、13、14、15）中；以及

磁性检测部，其设置在所述磁通量产生部（20）和所述突出部（115、125、135、145、155）之间，所述磁性检测部设置在相对于所述磁通量产生部（20）的固定位置，所述磁性检测部的磁感方向垂直于穿过所述磁通量产生部（20）的磁通量的方向，所述磁性检测部输出与通过所述磁轭（11、12、13、14、15）相对于所述磁性检测部的相对移动所产生的磁通密度相对应的信号。

2.如权利要求1所述的行程量检测装置，

其中所述顶部（116、126、136）沿所述相对移动的方向设置在所述磁轭（11、12、13）的中部。

3.如权利要求2所述的行程量检测装置，

其中所述突出部（115、125、135）沿所述假想直线（Lx）延伸的方向在所述顶部（116、126、136）的两侧线性对称。

4.如权利要求1所述的行程量检测装置，

其中所述顶部（146，156）设置在除所述磁轭（14，15）沿所述假想直线（Lx）延伸方向的中部以外的位置。

5.如权利要求1-4中任一项所述的行程量检测装置，

其中所述突出部（115）的形状设置成使得到所述假想直线（Lx）的距离的变化率在与所述顶部（116）相对的位置处为零，并且所述变化率随着到所述顶部（116）的距离的增加而逐渐增加。

6.如权利要求1-4中任一项所述的行程量检测装置，

其中所述突出部（125）的形状设置成使得到所述假想直线（Lx）的距离的变化率在与所述顶部（126）相对的位置处为零，并且所述变化率随着到所述顶部（126）的距离的增加而恒定地减小。

7.如权利要求1-4中任一项所述的行程量检测装置，

其中所述突出部（135）的形状设置成使得到所述假想直线（Lx）的距离的变化率在与所述顶部（136）相对的位置处为零，并且所述变化率随着到所述顶部（136）的距离的增加而逐渐减小。

8.如权利要求1-4中任一项所述的行程量检测装置，

其中所述磁性检测部包括霍尔元件（31）。

9.如权利要求1-4中任一项所述的行程量检测装置，

其中所述磁性检测部包括磁阻元件（37）。

10.如权利要求1-4中任一项所述的行程量检测装置，还包括：

线性校正部（323），其进行校正以提高从所述磁性检测部输出的信号的线性度。