[发明专利]双波段共光路共焦面成像系统

权利要求书

1.双波段共光路共焦面成像系统，包括主镜（1）、次镜（2）、中继镜组（3）和焦平面探测器（8）；其特征在于，

所述主镜（1）、次镜（2）、中继镜组（3）和焦平面探测器（8）在同一光轴上，所述主镜（1）的反射面和所述次镜（2）的反射面相对排布，所述主镜（1）开有中心孔，所述中继镜组（3）和焦平面探测器（8）位于所述主镜（1）的中心孔内，所述中继镜组（3）位于第一像面（4）与焦平面探测器（8）之间，主镜（1）和次镜（2）为卡塞格林结构形式；光束经主镜（1）反射后入射到次镜（2）上，由次镜（2）反射聚焦成像在第一像面（4）上；中继镜组（3）将第一像面（4）上的目标转像，聚焦到第二像面上；所述第二像面与焦平面探测器（8）的焦平面阵列（7）重合。

2.根据权利要求1所述的双波段共光路共焦面成像系统，其特征在于，所述光学系统光谱透过范围为3μm-10μm，系统可对中波红外和长波红外同时成像。

3.根据权利要求1所述的双波段共光路共焦面成像系统，其特征在于，所述的焦平面探测器（8）为制冷型探测器，包含焦平面探测器窗口（5）、焦平面探测器冷阑（6）和焦平面阵列（7），所述焦平面探测器冷阑（6）位于焦平面探测器窗口（5）和焦平面阵列（7）之间，所述焦平面探测器窗口（5）基于红外透过材料，所述焦平面阵列（7）为中波红外/长波红外双波段焦平面阵列（7）或宽波段焦平面阵列（7）。

4.根据权利要求1所述的双波段共光路共焦面成像系统，其特征在于，所述主镜（1）为凹非球面反射镜，所述次镜（2）为凸非球面反射镜；所述主镜（1）和所述次镜（2）的材料为铝、碳化硅、铍、铍铝或微晶玻璃。

5.根据权利要求1所述的双波段共光路共焦面成像系统，其特征在于，所述主镜（1）的反射面为标准二次曲面或高次非球面；所述次镜（2）的反射面为标准二次曲面或高次非球面。

6.根据权利要求1所述的双波段共光路共焦面成像系统，其特征在于，所述中继镜组（3）包括沿同一光轴顺序放置的第一折射透镜（31）、第二折射透镜（32）、第三折射透镜（33）和第四折射透镜（34）。

7.根据权利要求6所述的双波段共光路共焦面成像系统，其特征在于，所述第一折射透镜（31）基于Ge晶体材料，第一折射透镜前表面（311）为球面，第一折射透镜后表面（312）为非球面。

8.根据权利要求6所述的双波段共光路共焦面成像系统，其特征在于，所述第二折射透镜（32）基于ZNS晶体材料，其第二折射透镜前表面（321）和第二折射透镜后表面（322）均为球面。

9.根据权利要求6所述的双波段共光路共焦面成像系统，其特征在于，所述第三折射透镜（33）基于BaF2晶体材料，其第三折射透镜前表面（331）和第三折射透镜后表面（332）均为球面。

10.根据权利要求6所述的双波段共光路共焦面成像系统，其特征在于，所述第四折射透镜（34）基于ZnSe晶体材料，其第四折射透镜前表面（341）为非球面，第四折射透镜后表面（342）为球面。