[发明专利]基于三个测速线圈串联的测振装置有效
申请号: | 201310084728.2 | 申请日: | 2013-03-18 |
公开(公告)号: | CN103162808A | 公开(公告)日: | 2013-06-19 |
发明(设计)人: | 陈立刚;戴思丹;刘鸿烨;王慧婷;兰鹏 | 申请(专利权)人: | 核工业理化工程研究院 |
主分类号: | G01H11/02 | 分类号: | G01H11/02 |
代理公司: | 天津市宗欣专利商标代理有限公司 12103 | 代理人: | 胡恩河 |
地址: | 300180 *** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 三个 测速 线圈 串联 装置 | ||
技术领域
本发明属于一种旋转机械设备振动参数的测振装置,具体涉及一种基于三个测速线圈串联的测振装置。
背景技术
目前,旋转机械设备振动参数的检测方法包括涡流测振、激光测振和测速线圈测振,前两者精度较高但只适用于单机试验阶段,由于其高成本、安装困难、密封可靠性低等因素不能应用于大型试验及工业生产中。现有的测速线圈测振均基于单个测速线圈,测量精度低、误差大,无法满足工业应用。
发明内容
为解决上述技术问题,本发明提供了一种基于三个测速线圈串联的测振装置。
本发明的技术方案为:一种基于三个测速线圈串联的测振装置,包括外壳和位于外壳内的支撑架、转子;其中,支撑架为圆柱体,在圆柱体的前端面上开有一阶梯通孔,转子设置于阶梯通孔中;在外壳内部的前端面和转子的前端面之间设置有轴承,在外壳内部的前端面和转子的前端面上围绕轴承分别设置有环式磁体和导磁体;在支撑架的内部,环绕阶梯通孔按顺时针方向依次设置有Ⅰ号测速线圈、Ⅱ号测速线圈、Ⅲ号测速线圈,三个测速线圈沿圆周均匀分布、并依次连接,其中,Ⅰ号测速线圈和Ⅲ号测速线圈的绕向相同,Ⅱ号测速线圈的绕向与Ⅰ、Ⅲ号测速线圈相反。
Ⅰ号测速线圈和Ⅲ号测速线圈的匝数相同,Ⅱ号测速线圈的匝数为Ⅰ、Ⅲ号测速线圈的50%-90%。
Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ号测速线圈还包括线圈外壳和两根接线柱。
导磁体为中心带有圆孔的六边形,六边形的一个角被削去,形成一个短角。
本发明所提供的基于三个测速线圈串联的测振装置,可提高旋转机械设备振幅检测的测量精度,对转子运行过程中轴向多方向的振动信息均能起到很好的检测效果,并且成本低、测速线圈安装方便、不影响设备的运行及密封性,具备工业化应用的可行性。
附图说明
图1为本发明基于三个测速线圈串联的测振装置的剖面图;
图2为导磁体的左视图;
图3为测速线圈的左视放大图;
图4为三个测速线圈在支撑架上的安装图;
图5为本发明基于三个测速线圈串联的测振装置运行时的输出信号波形图。
其中:
1外壳 2支撑架 3阶梯通孔
4转子 5轴承 6环式磁体
7导磁体 8短角 9感应线圈
10线圈外壳 11接线柱 12Ⅰ号测速线圈
13Ⅱ号测速线圈 14Ⅲ号测速线圈 15导线
16Ⅰ号测速线圈引出线 17Ⅲ号测速线圈引出线。
具体实施方式
如图1、4所示,一种基于三个测速线圈串联的测振装置,包括圆筒状外壳1和位于外壳1内的支撑架2、转子4;其中,支撑架2为圆柱体,在圆柱体的前端面上,沿轴线方向开有一阶梯通孔3,转子4设置于阶梯通孔3中,支撑架2的外圆周面与外壳1的内圆周面紧密配合。
如图1、2所示,在外壳1的前端面和转子4的前端面之间设置有轴承5,在外壳1内部的端面上围绕轴承5设有环式磁体6,在转子4的前端面上环绕轴承5设置有导磁体7,导磁体7为中心带有圆孔的六边形,六边形的一个角被削去,形成一个短角8。
如图3所示,测速线圈包括感应线圈9、密封感应线圈的抗腐蚀性胶体线圈外壳10以及引出感应线圈接线的两根接线柱11。
如图4所示,在支撑架2的内部,环绕阶梯通孔3按顺时针方向依次设置有Ⅰ号测速线圈12、Ⅱ号测速线圈13、Ⅲ号测速线圈14,三个测速线圈沿圆周均匀分布、并依次通过导线15串联连接,其中,Ⅰ号测速线圈12和Ⅲ号测速线圈14的匝数、绕向相同,Ⅱ号测速线圈13的绕向与Ⅰ、Ⅲ号测速线圈相反,匝数为Ⅰ、Ⅲ号测速线圈的50%-90%。
Ⅰ号测速线圈引出线16与检测设备相连,Ⅲ号测速线圈引出线17通过支撑架2接地。
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