[发明专利]用于化学材料成份检测的核磁共振成像方法

权利要求书

1.一种用于化学材料成份检测的核磁共振成像方法，其特征在于包括以下步骤：

步骤一，选取检测条件：利用核磁共振成像仪，采用变场超导磁体和快速响应梯度系统；

步骤二，设置受检样品；将受检样品放置在样品室内，由可变温度装置对样品室进行恒温和变温控制；

步骤三，推衍化学成份像：磁场频率可以自动调谐至与受检样品形成共振，通过最强峰形成材料总成份像，利用计算机将共振峰傅立叶转换为化学位移谱图，选择所需要的化学位移作为化学成份像，合并相关成份像，增大检测灵敏度，进行成份相关性分析；

步骤四，利用计算机反演：采集磁场频率与受检样品的共振信号，利用计算机进行四维傅立叶变换反演，得到空间分布的材料化学结构谱分布图和弛豫谱；

步骤五，分析材料结构与化学成份：采集受检样品的核磁共振化学位移谱图，通过计算机软件选取不同的化学位移成像，分析受检样品的材料结构与化学成份；

步骤六，绘制时间-化学位移图和时间-成份图：间隔几分钟重复步骤三、步骤四、步骤五，连续进行多次化学位移成像，得到受检测样品随时间变化的化学位移谱图和成份分布图。

2.根据权利要求1所述的用于化学材料成份检测的核磁共振成像方法，其特征是：核磁共振成像仪用于测量受检样品的核磁共振化学位移谱和弛豫谱，从而得到受检样品的化学结构变化和分子之间的作用力关系。