[发明专利]数粒机的计数装置及其计数方法

权利要求书

1.一种数粒机的计数方法，其特征是，所述数粒机的计数方法步骤包含有：

取得待测颗粒的一宽度、一长度，以换算出待测颗粒的一截面积；

取得待测颗粒通过待测区的时间，以换算待测颗粒的一高度；

以待测颗粒的截面积与高度换算一待测体积；

根据待测体积与一预设标准体积的差异，作为计算待测颗粒数量的依据。

2.如权利要求1所述的数粒机的计数方法，其特征是，所述待测颗粒通过待测区的时间是由多数个取样时间所构成，每一取样时间可换算出所述待测颗粒的一单位高度，并与截面积相乘后得出一单位体积；

所述待测体积是通过累积多数个单位体积以构成一总体积。

3.如权利要求1或2中所述的数粒机的计数方法，其特征是，所述待测颗粒数量的计算是通过下列步骤得知：

A.判断待测颗粒是否离开待测区，是的话，执行步骤D；

B.判断待测颗粒总体积是否大于标准体积的上限，否的话，则重新计算所述待测颗粒的单位体积以更新总体积；

C.累计颗粒数目，并将总体积减去标准体积，以更新所述总体积(总体积=总体积-标准体积)，再重新计算所述待测颗粒的单位体积以更新总体积；

D.判断待测颗粒的总体积是否大于等于标准体积的下限，否的话，则针对下一待测颗粒重新计算单位体积；

E.令待测颗粒的颗粒数目等于颗粒数目加1，且令其总体积等于0。

4.一种数粒机的计数装置，其特征是，所述数粒机的计数装置包含有：

一本体，具有一顶面、一底面及一个以上贯穿顶面、底面的通道，且通道上下端分别形成有一入口及一出口；

一个以上的第一轴向感测模块，是设于前述通道的入口处，所述第一轴向感测模块是由多数等距并排的第一感测器所组成；

一个以上的第二轴向感测模块，是设于前述通道的入口处，且与第一轴向感测模块呈非平行且非重迭设置，所述第二轴向感测模块是由多数等距并排的第二感测器所组成；

一控制单元，是与前述第一、第二轴向感测模块的第一、第二感测器连接，且内建有一计算颗粒的方法。

5.如权利要求4所述的数粒机的计数装置，其特征是，所述通道邻近入口处的各边形成有多数个插槽，分供容置第一、第二轴向感测模块；

所述多个第一感测器是分别于两电路板上分设多数发射器与多数接收器，两电路板并分设于本体上各通道两相对的插槽内；

所述多个第二感测器是分别于两电路板上分设多数发射器与多数接收器，两电路板并分设于本体上各通道两相对并相邻于第一感测器的插槽内；

前述各电路板上的发射器、接收器是等距排列且相距一距离。

6.如权利要求5所述的数粒机的计数装置，其特征是，所述通道内侧壁是具有一透明区域；

所述第一、第二轴向感测模块中的第一、第二感测器是分别对应于所述通道内侧壁中的透明区域。

7.如权利要求6所述的数粒机的计数装置，其特征是，所述第一、第二感测器的发射器、接收器分别为红外线发射器及红外线接收器。

8.如权利要求4至7中任一项所述的数粒机的计数装置，其特征是，所述通道由俯观之是呈一多边形体，且具有多个侧边N，并设有对应其侧边数量N的多个轴向感测模块。