[发明专利]用于控制工业工艺的多芯片模块和方法有效

专利信息
申请号: 201310066308.1 申请日: 2013-03-01
公开(公告)号: CN103294022B 公开(公告)日: 2017-10-20
发明(设计)人: 萨姆·格南阿·萨芭帕蒂;亚历山大·泰萨格洛 申请(专利权)人: 德州仪器公司
主分类号: G05B19/418 分类号: G05B19/418
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司11287 代理人: 王璐
地址: 美国德*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 控制 工业 工艺 芯片 模块 方法
【权利要求书】:

1.一种多芯片模块,其包括:

第一裸片,其包括:

控制处理器,其产生信号以控制工业工艺;以及

输入/输出接口;

第二裸片,其包括:

监督处理器;以及

输入/输出接口;且

其中所述控制处理器和所述监督处理器中的一者的处理器故障由所述控制处理器和所述监督处理器中的另一者检测,且检测所述故障的所述处理器经配置以经由其输入/输出接口来断言信号以致使工业工艺响应于所述故障转变到安全状态;且其中所述第一和第二裸片使用不同工艺技术产生。

2.根据权利要求1所述的多芯片模块,其中所述用以致使所述工业工艺转变到安全状态的信号响应于故障的所述检测而立即断言。

3.根据权利要求1所述的多芯片模块,其中所述用以致使所述工业工艺转变到安全状态的信号在相对于故障的所述检测的一延迟之后断言。

4.根据权利要求3所述的多芯片模块,其中所述监督处理器检测所述控制处理器的故障,且在所述监督处理器上执行的软件确定所述延迟的适当值。

5.根据权利要求1所述的多芯片模块,其中所述用以控制所述工业工艺的信号是脉宽调制信号。

6.根据权利要求5所述的多芯片模块,其中所述控制处理器检测所述监督处理器的故障且更改所述脉宽调制信号以致使所述工业工艺转变到安全状态。

7.一种用于控制工业工艺的方法,其包括:

由控制处理器产生信号以控制所述工业工艺;

通过多芯片模块的第一裸片上的处理器检测所述多芯片模块的第二裸片上的处理器的故障;以及

通过检测到所述故障的所述处理器断言信号以致使所述工业工艺响应于检测所述故障而转变到安全状态;

其中所述第一和第二裸片使用不同工艺技术产生。

8.根据权利要求7所述的方法,其进一步包括响应于故障的所述检测而立即断言所述用以致使所述工业工艺转变到安全状态的信号。

9.根据权利要求7所述的方法,其进一步包括在相对于故障的所述检测的一延迟之后断言所述用以致使所述工业工艺转变到安全状态的信号。

10.根据权利要求7所述的方法,其中所述用以控制所述工业工艺的信号是脉宽调制信号。

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