[发明专利]光学检测装置及其工作方法

权利要求书

1.一种光学检测装置，其特征在于，包含：

一光路模块，用以发射一光源至一待测物质并接收该待测物质反射该光源所产生的一光学信号；

一致动模块，用以致使该待测物质产生一振动；以及

一数据处理模块，耦接至该光路模块及该致动模块，用以纪录分析关于该待测物质的物质特性的一检测结果并分别调控该光路模块及该致动模块的检测参数。

2.如权利要求1所述的光学检测装置，其特征在于，该检测结果是包含该待测物质的机械特性及光学特性，该待测物质的机械特性是包含弹性系数及粘性系数且该待测物质的光学特性是包含光穿透特性、光吸收特性及光反射特性。

3.如权利要求1所述的光学检测装置，其特征在于，该光路模块是包含具有不同功能的复数个光学单元，以提供一光干涉效果，该复数个光学单元至少包含一发射单元及一接收单元，该发射单元是用以发射该光源至该待测物质，并且该接收单元是用以接收该待测物质反射该光源所产生的该光学信号。

4.如权利要求1所述的光学检测装置，其特征在于，该光路模块的检测参数包含发射光波长、发射光能量、光发射角度及光接收角度；该致动模块的检测参数包含致动能量、致动频率/波长、致动时间及致动强度，该致动模块为接触式设计或是利用气动、声波的非接触式设计。

5.如权利要求1所述的光学检测装置，其特征在于，该数据处理模块纪录并调控该致动模块致使该待测物质产生该振动时所使用的致动参数；该数据处理模块判读该光路模块所接收到的该待测物质于静止及振动状态下分别反射该光源所产生的不同光学信号并据以计算出该待测物质的机械特性及光学特性。

6.如权利要求1所述的光学检测装置，其特征在于，进一步包含：

一区域选择模块，耦接至该数据处理模块，用以于该待测物质上选出一待测区域以供检测；以及

一模式设定模块，耦接至该数据处理模块，用以选择性地设定该光学检测装置处于一已知物质模式或一未知物质模式下；

其中，于该已知物质模式下，该数据处理模块是将该待测物质的该检测结果与储存于一数据库的复数个预设检测结果进行快速比对，以确认该待测物质为一特定已知物质；于该未知物质模式下，使用者是先选定该待测物质所具有的一层状性质，该数据处理模块再根据该层状性质自该数据库选出相对应的该光路模块及该致动模块的检测参数，以供该光路模块及该致动模块对该待测物质进行检测。

7.一种工作一光学检测装置的方法，其特征在于，该光学检测装置包含一光路模块、一致动模块及一数据处理模块，该方法包含下列步骤：

(a)该光路模块发射一光源至一待测物质并接收该待测物质反射该光源所产生的一光学信号；

(b)该致动模块致使该待测物质产生一振动；以及

(c)该数据处理模块纪录分析关于该待测物质的物质特性的一检测结果并分别调控该光路模块及该致动模块的检测参数。

8.如权利要求7所述的方法，其特征在于，该检测结果包含该待测物质的机械特性及光学特性，该待测物质的机械特性包含弹性系数及粘性系数且该待测物质的光学特性包含光穿透特性、光吸收特性及光反射特性，该光路模块的检测参数包含发射光波长、发射光能量、光发射角度及光接收角度，该致动模块的检测参数包含致动能量、致动频率/波长、致动时间及致动强度，该致动模块为接触式设计或是利用气动、声波的非接触式设计。

9.如权利要求7所述的方法，其特征在于，该光路模块包含具有不同功能的复数个光学单元，以提供一光干涉效果，该复数个光学单元至少包含一发射单元及一接收单元，该发射单元是用以发射该光源至该待测物质，并且该接收单元是用以接收该待测物质反射该光源所产生的该光学信号，该数据处理模块纪录并调控该致动模块致使该待测物质产生该振动时所使用的致动参数，该数据处理模块判读该光路模块所接收到的该待测物质于静止及振动状态下分别反射该光源所产生的该光学信号并计算出该待测物质的机械特性及光学特性。

10.如权利要求7所述的方法，其特征在于，进一步包含下列步骤：

于该待测物质上选出一待测区域以供检测；以及

选择性地设定该光学检测装置处于一已知物质模式或一未知物质模式下；

其中，于该已知物质模式下，该数据处理模块是将该待测物质的该检测结果与储存于一数据库的复数个预设检测结果进行快速比对，以确认该待测物质为一特定已知物质；于该未知物质模式下，使用者先选定该待测物质具有一层状性质，该数据处理模块再根据该层状性质自该数据库选出相对应的该光路模块及该致动模块的检测参数，以供该光路模块及该致动模块对该待测物质进行检测。