[发明专利]光检测器单元、光学拾取器和光学信息存储介质系统

说明书

本申请要求于2012年2月7日提交到韩国知识产权局的第10-2012-0012538号韩国专利申请的权益，其全部公开内容出于全部目的通过引用包含于此。

技术领域

下面的描述涉及一种因在输入/输出端布置方面的改进而具有减小的高度的光学拾取器的光检测器单元。

背景技术

光学拾取器通过会聚从光源发射的光、将光聚焦在信息存储介质上、并使用光检测器接收由信息存储介质反射的光来将数据记录到信息存储介质和从信息存储介质再现数据。对于纤薄型光盘驱动器，期望光学拾取器是纤薄的，以进一步减小容纳光学拾取器所需的空间和部件的量。

为了将光学拾取器应用于诸如超级本的纤薄的设备，在光学拾取器的高度方面存在着一定的限制。因此，期望减小光学拾取器的高度以使光学拾取器更适用于纤薄的设备。

发明内容

在一方面中，提供了一种用于光学拾取器的光检测器单元，所述光检测器单元包括光检测器集成电路（PDIC），所述PDIC包括：光接收部分，光接收部分包括主光接收部分和分别设置在主光接收部分的相对侧的多个副光接收部分，主光接收部分和所述多个副光接收部分中的每个均包括多个局部光接收区域；多个区块，所述多个区块输出由主光接收部分和所述多个副光接收部分中的每个局部光接收区域检测到的光的检测信号，其中，所述多个区块沿光学拾取器的高度方向被布置为形成两个横向的行。

所述光检测器单元还可以包括印刷电路板（PCB），PCB结合到所述PDIC，以接触所述多个区块。

PCB可以包括柔性PCB。

PCB可以包括接触所述多个区块的多个触点和形成在PCB上以将所述多个触点连接到外部电路并可沿与光学拾取器的高度方向垂直的横向方向延伸的布线。

PCB可以包括接触所述多个区块的多个触点和形成在PCB上以将所述多个触点连接到外部电路的多条布线，其中，所述多条布线中的一些布线可沿与光学拾取器的高度方向垂直的横向方向延伸，所述多条布线中的其余的布线可以沿与对应于朝向光学拾取器的物镜的方向的第一方向相对的第二方向延伸。

所述多个触点可以形成在面对所述多个区块的两行中，从布置在更靠近物镜的行上的触点延伸的布线可以沿横向方向延伸，从布置在更远离物镜的行上的触点延伸的布线可以沿第二方向延伸。

光学拾取器的高度可以为1.75mm或更小。

在一方面中，提供了一种光学拾取器，所述光学拾取器包括：光源；物镜，物镜将从光源发射的光聚焦在信息存储介质上；光检测器单元，光检测器单元接收由信息存储介质反射的光，以检测信息信号和/或误差信号，其中，光检测器单元包括光检测器集成电路（PDIC），该PDIC包括：光接收部分，光接收部分包括主光接收部分和分别设置在主光接收部分的相对侧的多个副光接收部分，主光接收部分和所述多个副光接收部分中的每个均包括多个局部光接收部分；多个区块，输出由主光接收部分和所述多个副光接收部分中的每个局部光接收区域检测到的光的检测信号，所述多个区块沿所述光学拾取器的高度方向被布置为形成两个平行的行。

所述光检测器单元还可以包括印刷电路板（PCB），PCB结合到PDIC，以接触所述多个区块。

PCB可以包括柔性PCB。

PCB可以包括接触所述多个区块的多个触点和形成在PCB上以将所述多个触点连接到外部电路并可沿与所述光学拾取器的高度方向垂直的横向方向延伸的布线。

PCB可以包括接触所述多个区块的多个触点和形成在PCB上以将所述多个触点连接到外部电路的多条布线，其中，所述多条布线中的一些布线可沿与所述光学拾取器的高度方向垂直的横向方向延伸，所述多条布线中的其余的布线可以沿与对应于朝向所述光学拾取器的物镜的方向的第一方向相反的第二方向延伸。

所述多个触点可以形成在面对所述多个区块的两行中，从布置在更靠近物镜的行上的触点延伸的布线可以沿横向方向延伸，从布置在更远离物镜的行上的触点延伸的布线可以沿第二方向延伸。

光检测器单元的沿所述光学拾取器的高度方向的高度可以为1.75mm或更小。

所述光学拾取器还可以包括加固板，加固板被竖直地安装在基座上，其中，光检测器单元安装在加固板上。

加固板的沿所述光学拾取器的高度方向的高度可以为2.15mm或更小。