[发明专利]提高硅基薄膜太阳能电池光电转换效率的方法在审
申请号: | 201310042244.1 | 申请日: | 2013-02-04 |
公开(公告)号: | CN103078012A | 公开(公告)日: | 2013-05-01 |
发明(设计)人: | 曲铭浩;胡安红;汝小宁;张津燕;徐希翔 | 申请(专利权)人: | 福建铂阳精工设备有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 福建省泉州鲤城区江南国家高新*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 提高 薄膜 太阳能电池 光电 转换 效率 方法 | ||
技术领域
本发明涉及光伏太阳能电池技术领域,特别涉及一种提高硅基薄膜太阳能电池光电转换效率的方法。
背景技术
在光伏电池领域,硅基薄膜太阳电池因其原材料储量丰富、无污染、制备工艺简单及耗能低、便于大面积连续化生产等优点,受到广泛关注。
微晶硅介于非晶硅与晶体硅之间,微结构有序性也得到了提高,基本不存在光致衰退效应,微晶硅太阳电池的稳定性也得到了很大的改善,因此,微晶硅被认为是一种非常具有发展前景的光伏材料。此外,微晶硅可以与非晶硅叠加在一起,构成非晶硅微晶硅叠层电池,可将电池光谱响应长波限从目前非晶硅单结太阳电池的0.9μm扩展到1.1μm,能更充分地利用太阳光谱,提高硅薄膜电池的转换效率,有广泛的应用前景。但是比起非晶硅与单晶硅的均匀分布,微晶硅材料的结构更加复杂,它包含着晶粒、晶界、非晶组织与微空洞。由于微晶硅材料不像非晶硅那样致密,其在制备过程中很容易吸附来自反应源气体或本底真空中的残留的氧及水蒸气等成分,使材料发生后氧化现象,进而使电池的性能变差。
在硅基薄膜电池中,背反射电极能使透过电池到达背电极的那部分光再反射回来,进行二次吸收,这样可以增加i层的光吸收从而提高电池效率。但是背反射电极的加入会增加串联电阻值,所以要提高电池的转换效率,就要尽量减小串联电阻值,背电极和n层之间必须形成良好的欧姆接触,尽量减少对载流子的阻挡作用。
发明内容
因此,本发明的目的在于提供一种提高硅基薄膜太阳能电池光电转换效率的方法,能够减少制造过程中氧及水蒸汽等对微晶硅电池的污染,同时改善背电极欧姆接触,减少串联电阻,进一步光电转换效率。
本发明的一种提高硅基薄膜太阳能电池光电转换效率的方法,包括:
在玻璃或其它透明基板上沉积透明导电氧化物薄膜;
在透明导电氧化物薄膜表面依次沉积多结微晶硅或非晶硅电池;
在电池表面沉积背电极形成电池芯片;
所述方法还包括对所述电池芯片进行热处理和层压封装的步骤。
可选的,所述热处理的步骤在层压封装步骤之前。
可选的,所述热处理的步骤在层压封装步骤之后。
可选的,所述热处理的步骤在层压封装步骤之前和之后。
可选的,所述热处理步骤的温度在60-250℃。
可选的,所述热处理步骤的时间为20-1000分钟。
可选的,所述热处理步骤在真空、空气或其它气氛中进行。
可选的,所述其它气氛包括N2、Ar、H2。
可选的,所述多结电池包括双结电池、三结电池和四结电池。
可选的,所述双结电池为非晶硅/微晶硅电池,非晶硅锗/微晶硅电池;
所述三结电池为非晶硅/非晶硅锗/微晶硅,或非晶硅/微晶硅/微晶硅,或非晶硅/非晶硅/微晶硅,或非晶硅锗/非晶硅锗/微晶硅电池,或非晶硅/微晶硅/微晶硅锗电池;
所述四结电池为非晶硅/非晶硅/微晶硅/微晶硅,或非晶硅/非晶硅/非晶硅锗/微晶硅,或非晶硅/非晶硅/微晶硅锗/微晶硅,或非晶硅/非晶硅/微晶硅/微晶硅锗,或非晶硅/非晶硅锗/微晶硅锗/微晶硅,或非晶硅/非晶硅锗/微晶硅/微晶硅电池。
与现有技术相比,本发明具有以下优点:
本发明的方法通过执行单结或多结微晶硅薄膜太阳电池后序的热处理工艺,能有效的减少微晶硅的氧及水蒸汽等污染,使微晶硅薄膜的后氧化现象得到抑制,降低载流子的复合,进而增加短路电流。并且能较大的改善背电极的欧姆接触,减少串联电阻,提升开路电压。通过以上工艺设计,在0.7nm/s的高沉积速率和0.8m2的大尺寸的基板上制备出转换效率11.9%以上的非晶硅/微晶硅双结电池和非晶硅/非晶硅锗/微硅三结电池。
附图说明
通过附图中所示的本发明的优选实施例的更具体说明,本发明的上述及其它目的、特征和优势将更加清晰。在全部附图中相同的附图标记未必指示相同的部分。并未刻意按比例绘制附图,重点在于示出本发明的主旨。在附图中,为清楚起见,放大了层的厚度。
图1为根据本发明方法第一实施例的流程图;
图2为根据本发明方法第二实施例的流程图;
图3为根据本发明方法第三实施例的流程图。
所述示图是说明性的,而非限制性的,在此不能过度限制本发明的保护范围。
具体实施方式
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的