[发明专利]基于关断过电压的两电平叠层母排杂感的测试电路及方法

权利要求书

1.一种基于关断过电压的两电平叠层母排杂感的测试电路，其特征在于，包括叠层母排、第一IGBT、第二IGBT、直流支撑电容、直流电源以及续流电抗器，其中：

所述叠层母排的正端分别连接所述第一IGBT的集电极、所述直流支撑电容的正极以及所述直流电源的正极；

所述叠层母排的负端分别连接所述第二IGBT的发射极、所述直流支撑电容的负极以及所述直流电源的负极；

所述第一IGBT的发射极连接所述第二IGBT的集电极；

所述续流电抗器的一端连接所述第二IGBT的集电极，另一端连接所述第二IGBT的发射极。

2.一种基于权利要求1所述测试电路的两电平叠层母排杂感的测试方法，其特征在于，包括下列步骤：

步骤一，所述第二IGBT保持关断，所述第一IGBT在t0时刻开通，t1时刻关断，t2时刻再开通，t3时刻再关断；

步骤二，在t3时刻的关断过程中，得到第一IGBT的集电极与第二IGBT的发射极的峰值电压与稳态电压的差值ΔV_ce，以及流过第一IGBT集电极的电流Ic的下降率ΔI_c/Δt，通过Lσ=ΔV_ce/（ΔI_c/Δt）获得叠层母排杂感L_σ，其中，Δt表示时间段，ΔI_c表示Δt时间内Ic下降的幅度。

3.根据权利要求2所述的两电平叠层母排杂感的测试方法，其特征在于，所述ΔV_ce=Vce-DCs，其中，DCs表示直流电源的电压，即所述稳态电压；Vce表示t3时刻第一IGBT集电极与第二IGBT发射极之间的电压，即所述峰值电压。