[发明专利]一种集成电路测试数据的处理方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种集成电路测试数据的处理方法，属于集成电路测试技术领域，适用于集成电路测试数据记录生产方式。 

背景技术

高等级集成电路生产过程中，集成电路在封装完毕后获得唯一的序列号，在各种可靠性试验后的测试环节或其他所需进行的测试环节测试时，均按照初始获得的唯一序列号进行数据记录。集成电路的性能不仅通过测试数据来进行性能的判别，同时，数据变化量对于器件性能的判别也起着重要的作用。解决任意两批次测试数据相应测试项目测试数值变化量的计算问题，可以对集成电路性能的判别起着进一步的确认作用。 

早期集成电路设计规模小，测试项目少，每批次器件数量不多，需要对比的测试项目也仅有一项，这种条件下，通常人工进行数据对比：按照器件序列号在实验前后的两份收据中寻找相同的测试项目，提取出两项数值，人工计算出变化量，再根据产品手册的变化量极限，判断变化量是否在范围内。 

随着集成电路技术的发展，集成电路规模越来越大，管脚越来越多，测试项目也逐渐丰富，批次器件数量也成几何方式增加，这种情况下，再使用人工数据提取、计算、判别工作量大的同时也易出现人为错误。 

目前国内在集成电路测试领域使用较多的集成电路测试仪主要是ADVANTEST公司、Teradyne等公司的设备。Teradyne公司的J750超大规模数模混合测试仪由于其资源配置丰富，可实现“零占地”的要求，在集成电路设计、研发、测试企业广泛使用。J750可生成便于批次数据统计的格 式文件，具有进行批次数据统计的功能，但对于两份数据文件相同测试项目数据的提取、比对、变化量计算则没有相应的解决工具。 

发明内容

本发明的技术解决问题是：克服现有技术的不足，提供了一种集成电路测试数据的处理方法，解决集成电路生产过程中，需要进行测试项目变化量计算时，人工提取数据并计算变化量效率低、易出错，同时集成电路测试设备不具备进行此类数据处理的问题。 

本发明的技术解决方案是： 

一种集成电路测试数据的处理方法，包括以下步骤： 

（1）对待测批次的集成电路芯片按照各集成电路芯片的器件号进行N次测试，生成N个测试数据文件，N为正整数且N大于等于2； 

（2）将需要进行数据提取的测试数据文件的文件名、进行变化量计算的测试项目、变化量极限值和极限单位一次性记录在第一临时文件中； 

（3）根据所述第一临时文件中的需要进行数据提取的测试数据文件在步骤（1）中生成的多个测试数据文件找到对应的两个测试数据文件，在该两个对应的测试数据文件中，根据第一临时文件中的需要进行变化量计算的测试项目分别进行数据搜索，将目标数据提取出来； 

（4）将步骤（3）中提取出来的两个测试数据文件中的目标数据按照所述第一临时文件中的极限单位进行测试数据单位的变换，生成统一单位的测试数据并分别保存在第二临时文件和第三临时文件中； 

（5）将所述第二临时文件和第三临时文件中相同器件号下的相同测试项目下的数据进行变化量计算，将变化量计算结果写入第四临时文件； 

（6）将所述第一临时文件中的变化量极限值与第四临时文件中的变化量计算结果进行比较，若第四临时文件中的变化量计算结果小于等于所述第一临时文件中的变化量极限值，则将该变化量计算结果所对应的器件号、测试数据和变化量计算结果本身存储到总汇报表中； 

若第四临时文件的变化量计算结果大于所述第一临时文件中的变化量极限值，则将该变化量计算结果所对应的器件号、测试数据和变化量计算结果本身同时存储到总汇报表和未通过项目汇报表，且在总汇报表中相应的变化量计算结果后写入标志F。 

所述需要进行数据提取的测试数据文件的文件名为2个。 

所述步骤（1）中每个集成电路芯片在同一个测试数据文件中最多包含一次测试数据结果。 

所述步骤（5）将所述第二临时文件和第三临时文件中相同器件号下的相同测试项目下的数据进行变化量计算，具体为：先将所述第二临时文件和第三临时文件中相同器件号下的相同测试项目下的数据进行求差计算，再取绝对值。 

本发明与现有技术相比的有益效果是： 

（1）本发明数据处理过程中所需的所有参数，包括测试数据文件名、进行变化量计算的测试项目、变化量极限值、变化量极限单位，在初始时进行一次性记录，在转换过程中自动进行各类测试数据的提取、计算、判别，不需再次进行人工干预，一次性完成变化量计算及判别的全部任务，具有良好的可操作性。