[发明专利]一种光学干涉谱域相位对照B扫描仪及其测量方法

权利要求书

1.一种光学干涉谱域相位对照B扫描仪，依次包括低相干宽带光源(1)、凸透镜L1(2)、柱面镜(3)、分光镜(4)、偏振片(5)、参考平面(6)、被测复合材料构件(7)、凸透镜L₂(8)、衍射光栅(9)、凸透镜L₃(10)、CCD相机(11)和计算机(12)。

2.根据权利要求1所述的一种光学干涉谱域相位对照B扫描仪，其特征在于：仪器主视光路图中依次包括低相干宽带光源(1)、凸透镜L₁(2)、相当于平面透镜的柱面镜(3)、分光镜(4)、偏振片(5)、参考平面(6)、被测复合材料构件(7)、凸透镜L₂(8)、相当于平面反射镜的衍射光栅(9)、凸透镜L₃(10)、CCD相机(11)和计算机(12)。

3.根据权利要求1所述的一种光学干涉谱域相位对照B扫描仪，其特征在于：仪器俯视光路图中依次包括低相干宽带光源(1)、凸透镜L₁(2)、相当于凸透镜的柱面镜(3)、分光镜(4)、偏振片(5)、参考平面(6)、被测复合材料构件(7)、凸透镜L₂(8)、具有对不同波长的光以不同衍射角衍射的衍射光栅(9)、凸透镜L₃(10)、CCD相机(11)和计算机(12)。

4.根据权利要求1所述的一种光学干涉谱域相位对照B扫描仪，其特征在于：照明光路中使用带宽10nm以上的低相干宽带光源(1)。

5.根据权利要求1所述的一种光学干涉谱域相位对照B扫描仪，其特征在于：成像光路的凸透镜L₂(8)和凸透镜L₃(10)之间包括一个衍射光栅(9)。

6.一种光学干涉谱域相位对照B扫描测量方法，其特征在于包括以下步骤：

1)、对被测复合材料构件(7)进行轻微预紧，记录此时的干涉光谱图像；

2)、对被测复合材料构件(7)加载，使其产生离面位移，记录此时的干涉光谱图像；

3)、将1)和2)步骤中测量得到的两干涉光谱图像分别进行傅里叶变换，取相频特性作差，计算被测复合材料构件(7)的三维离面位移场分布。