[发明专利]一种用于测量汽化时间的系统无效
申请号: | 201310011637.6 | 申请日: | 2013-01-11 |
公开(公告)号: | CN103076332A | 公开(公告)日: | 2013-05-01 |
发明(设计)人: | 王超;王文涛;李长桢;钟声远;唐晓军;张天华 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第十一研究所 |
主分类号: | G01N21/84 | 分类号: | G01N21/84 |
代理公司: | 工业和信息化部电子专利中心 11010 | 代理人: | 吴永亮 |
地址: | 100015*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 测量 汽化 时间 系统 | ||
技术领域
本发明涉及光电技术领域,尤其涉及一种用于测量汽化时间的系统。
背景技术
现有的测量样品被加热后的汽化时间一般是采用温度测量法,温度测量法是通过接触的方式测得待测样品的温度,即通过热敏元件接受被测样品的热量,从而得到被测样品的温度,根据测得的温度计算待测样品的汽化时间。但是该方法是通过热传导来实现测温,而热传导需要在热敏元件与待测样品达到热平衡后才准确,但是现实中热敏元件所感知的温度滞后于被测样品,不可避免的存在测得的温度滞后的问题,使测得的汽化时间不准确。
发明内容
鉴于上述的分析,本发明旨在提供一种用于测量汽化时间的系统,用以解决进一步提高测试样品的汽化时间的准确性。
本发明的目的主要是通过以下技术方案实现的:
一种用于测量汽化时间的系统,包括依次设置的探测器、扩束装置、成像装置和图像处理装置,所述扩束装置和所述成像装置之间设置有激光加热装置和待测样品;
所述探测器,用于持续向所述扩束装置发出激光光束;
所述扩束装置,用于对所述探测器发出的激光光束进行扩束处理;
所述激光加热装置,用于发出强激光,通过该强激光对所述待测样品进行加热;
所述成像装置,用于对所述待测样品的汽化产生区域进行实时成像,并记录加热过程中所述待测样品的汽化产生区域的图像;
所述图像处理装置,用于根据所述成像装置记录的图像确定所述待测样品的汽化的时间。
优选地,在所述待测样品和所述成像装置之间设置窄带滤光片;
所述窄带滤光片,用于滤除所述探测器发出的激光光束中的杂散光,滤除杂光后的激光光束在所述成像装置上进行成像。
优选地,所述成像装置包括:成像透镜、光阑和相机;
所述成像透镜,用于对所述汽化产生区域进行成像处理;
所述光阑,用于调整成像光束的大小,使所述汽化产生区域在所述相机上成像;
所述相机,用于记录所述汽化产生区域的像。
优选地,所述图像处理装置具体用于,对所述相机成像后的图像进行处理,当图像内有汽化生成物飞出时,则该时刻为所述待测样品发生汽化的时间。
本发明有益效果如下:
本发明提供了一种用于测量汽化时间的系统,通过在待测样品前设置一个激光器,激光器发出的激光光束经扩束装置后在成像装置上成像,再经图像处理装置处理得到待测样品汽化的时间,本发明通过光学的方式测量待测样品上方流场的变化,并在成像装置上进行成像,再通过图像处理装置进行后期处理,可以得到待测样品的精确的汽化时间。
本发明的其他特征和优点将在随后的说明书中阐述,并且,部分的从说明书中变得显而易见,或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在所写的说明书、权利要求书、以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
附图说明
图1为本发明实施例1中的用于测量汽化时间的系统示意图;
图2为本发明实施例2中的用于测量汽化时间的系统示意图。
具体实施方式
下面结合附图来具体描述本发明的优选实施例,其中,附图构成本申请一部分,并与本发明的实施例一起用于阐释本发明的原理。为了清楚和简化目的,当其可能使本发明的主题模糊不清时,将省略本文所描述的器件中已知功能和结构的详细具体说明。
实施例1
本发明实施例提供了一种用于测量汽化时间的系统,参见图1,该系统
包括依次设置的探测器、扩束装置、成像装置和图像处理装置,所述扩束装置和所述成像装置之间设置有激光加热装置和待测样品;
所述探测器,用于持续向所述扩束装置发出激光光束;
所述扩束装置,用于对所述探测器发出的激光光束进行扩束处理;
所述激光加热装置,用于发出强激光,通过该强激光对所述待测样品进行加热;
所述成像装置,用于对所述待测样品的汽化产生区域进行实时成像,并记录加热过程中所述待测样品的汽化产生区域的图像;
所述图像处理装置,用于根据所述成像装置记录的图像确定所述待测样品的汽化的时间。
其中,所述汽化产生区域具体为所述待测样品表面的上方区域,且该上方区域应该尽量靠近所述待测样品。
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