[发明专利]校准试块以及方法

权利要求书

1.一种校准试块，用来校准角度扫描相控阵超声波测试扫描仪的信号灵敏度，所述超声波测试扫描仪被设置为在经过扫描包迹线的多个连续射束角处形成主波阵面，所述校准试块是由传声材料制成的，

并且所述校准试块包括：具有外周边缘的第一主表面；第二主表面；校准表面，位于第一主表面和第二主表面的大体平面之间并且被配置成以大体圆弧状延伸，使得距离中心轴线大体等距，所述第一主表面的外周边缘与所述中心轴线间隔开的距离比所述校准表面与所述中心轴线间隔开的距离更大；和输入表面，用于声学联接到所述超声波测试扫描仪的超声波传感器，并且被设置为将所述传感器定位成使得从所述传感器到所述校准表面的主波阵面的路径长度对于经过所述扫描包迹线的每个射束角都大体相等。

2.根据权利要求1所述的校准试块，其特征在于，所述输入表面相对于所述校准表面的中心轴线大体上平行。

3.根据前述任一权利要求所述的校准试块，其特征在于，所述输入表面相对于所述校准表面的切面大体上平行。

4.根据前述任一权利要求所述的校准试块，其特征在于，根据设置所述扫描仪所要检测的缺陷来选择所述校准表面的尺寸。

5.根据前述任一权利要求所述的校准试块，其特征在于，所述校准表面的高度小于或等于5mm。

6.根据前述任一述权利要求所述的校准试块，其特征在于，所述校准表面延伸过至少90°的弧。

7.根据权利要求6所述的校准试块，其特征在于，所述校准表面延伸过大致180°的弧。

8.根据前述任一权利要求所述的校准试块，其特征在于，所述第一主表面的外周边缘与所述中心轴线间隔开的距离比所述校准表面与所述中心轴线间隔开的距离大所述中心轴线和所述校准表面之间的距离的至少四分之一。

9.根据前述任一权利要求所述的校准试块的应用，用于校准相控阵测试扫描仪的信号灵敏度和增益。

10.一种用于校准角度扫描相控阵超声波测试扫描仪的信号灵敏度的方法，该方法包括：

设置根据前述任一权利要求所述的校准试块；

将超声波测试扫描仪的超声传感器联接到所述校准试块的输入表面；和

通过测量来自所述校准表面的信号响应来校准所述超声波测试扫描仪的信号灵敏度。

11.根据权利要求10所述的方法，包括通过测量来自所述校准表面的信号响应来校准所述超声波测试扫描仪的信号增益的步骤。

12.根据前述任一权利要求所述的方法，由此所述扫描包迹线至少为90°。

13.根据前述任一权利要求所述的方法，由此所述扫描包迹线为横向扫描包迹线。

14.根据前述任一权利要求所述的方法，由此所述超声波测试扫描仪是Omniscan MX扫描仪。

15.在此大体参考图1和图2描述的校准试块。

16.在此大体参考图3描述的应用和方法。