[发明专利]一种电池寿命检测方法及装置无效

专利信息
申请号: 201310010234.X 申请日: 2013-01-11
公开(公告)号: CN103091639A 公开(公告)日: 2013-05-08
发明(设计)人: 曹雷;宋好强;陈金沛;胡永伟 申请(专利权)人: 中兴通讯股份有限公司
主分类号: G01R31/36 分类号: G01R31/36
代理公司: 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281 代理人: 薛祥辉
地址: 518057 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 电池 寿命 检测 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种电池寿命测试方法,其特征在于,包括:

检测电池的初始状态参数;

对所述电池进行N次循环的零搁置充放电操作;

检测所述电池的最终状态参数;

比对所述初始状态参数与所述最终状态参数,根据比对结果判断所述电池的寿命是否合格。

2.如权利要求1所述的电池寿命测试方法,其特征在于,所述零搁置充放电操作的步骤为:对所述电池进行充电操作完成之后,立即对所述电池进行放电操作。

3.如权利要求2所述的电池寿命测试方法,其特征在于,在对所述电池进行充电操作之前还包括确定所述电池的充电截止电流Ia的步骤;充电截止电流Ia为0.05C5A*C到0.07C5A*C,其中C为所述电池的额定放电容量。

4.如权利要求3所述的电池寿命测试方法,其特征在于,所述零搁置充放电操作具体为:采用恒流充电至额定电压之后,进行恒压充电直至充电电流小于Ia,立即采用恒流放电至放电截止电压。

5.如权利要求1至4任一项所述的电池寿命测试方法,其特征在于,所述对所述电池进行N次循环的零搁置充放电操作具体为:对所述电池进行一次零搁置充放电操作之后,立即对所述电池进行下一次所述零搁置充放电操作,直至N次循环的零搁置充放电操作完成。

6.如权利要求5所述的电池寿命测试方法,其特征在于,所述状态参数包括所述电池的内阻、厚度及放电容量;所述根据比对结果判断所述电池的寿命是否合格的步骤具体为:若所述电池的内阻的变化率不大于12%、厚度的变化率不大于8%、放电容量的衰减率不大于20%及(N-99)次至N次循环放电容量衰减率不大于5%,则所述电池的寿命合格。

7.一种电池寿命测试装置,其特征在于,包括第一检测模块、充放电模块、第二检测模块及比对模块;其中,

所述第一检测模块用于检测并记录电池的初始状态参数;

所述充放电模块用于对所述电池进行N次循环的零搁置充放电操作;

所述第二检测模块用于检测并记录所述电池的最终状态参数;

所述比对模块用于比对所述初始状态参数与所述最终状态参数,并根据比对结果判断所述电池的寿命是否合格。

8.如权利要求7所述的电池寿命测试装置,其特征在于,所述充放电模块用于对所述电池进行充电操作完成之后,立即对所述电池进行放电操作。

9.如权利要求8所述的电池寿命测试装置,其特征在于,还包括计算模块,所述计算模块用于确定所述电池的充电截止电流Ia。

10.如权利要求9所述的电池寿命测试装置,其特征在于,所述充放电模块用于对所述采用恒流充电至额定电压之后,进行恒压充电直至充电电流小于Ia,立即采用恒流放电至放电截止电压。

11.如权利要求7至10任一项所述的电池寿命测试装置,其特征在于,所述充放电模块用于对所述电池进行一次零搁置充放电操作之后,立即对所述电池进行下一次所述零搁置充放电操作,直至N次循环的零搁置充放电操作完成。

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