[发明专利]多阶段容器泄漏测试有效
申请号: | 201280073821.7 | 申请日: | 2012-06-08 |
公开(公告)号: | CN104471365B | 公开(公告)日: | 2018-12-18 |
发明(设计)人: | M·莱曼 | 申请(专利权)人: | 威尔科股份公司 |
主分类号: | G01M3/20 | 分类号: | G01M3/20;G01M3/22;G01M3/32 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 肖日松 |
地址: | 瑞士*** | 国省代码: | 瑞士;CH |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 阶段 容器 泄漏 测试 | ||
对装载于容器支座或“圆盘”中的被密封、填满的容器实施粗糙‑精细两个阶段的泄漏检测。第一次、粗糙泄漏检测阶段例如基于过程压力或阻抗或激光吸收的泄漏检测阶段的失败,致使容器与它们的相应容器支座一起被剔除。然后它们被分离来,并且容器支座在被返回到系统之前进行清洗和烘干。来自明显泄漏容器内部的任何泄漏产品因此被保留在容器支座内,从而减少后续容器及其容器支座的污染,防止这种污染到达精细泄漏检测阶段例如基于质量频谱仪的泄漏检测阶段。
技术领域
本发明涉及一种对密闭和填充容器进行泄漏测试的多阶段方法,以及用于一种实施该方法的相应系统。
背景技术
检测生产线上的泄漏容器以便阻止不完美包装的产品到达终端消费者这一点很重要,因为这种产品具有潜在危害或危险结果:例如,如果封装容器因泄漏而受到损害的话,那么食物或药物产品就会受到污染,或者产品会泄漏出去或损失。我们通过“产品”而知道容器的内含物,例如食物或饮料、药品、化学物等等。
过去这些年,已经开发了各种泄漏检测系统和方法,其中较灵敏的一种是由本申请人所开发并且公开在WO 2011/012730中,其内容通过参考并入本文。在该文献中公开的系统和方法描述基于质量频谱学的泄漏检测,并且因此能够检测极其精细的泄漏。因为质量频谱仪是在高度真空中工作的昂贵和敏感装置,粗糙泄漏可能会将大量产品引入到质量频谱仪中,需要专门的清洗或修复和/或会危害质量频谱仪。为了保护质量频谱仪免于受到这些风险,在质量频谱学泄漏检测之前实施粗糙泄漏检测,从而粗糙泄漏检测失败的容器就被剔除并且不经受基于质量频谱学的泄漏检测。该粗糙泄漏检测可以例如是过程压力方法,例如公开在US 5907093、US 6082184、US 6202477、US 6305215、US 6439033、US6575016、US 6829 936、US 7000456以及其它相关专利文献中的那些方法,所有这些均与本申请为相同的申请人。可替代地,粗糙泄漏检测例如可以是基于阻抗的方法例如公开在US6446493或US 6185987中。进一步替代地,粗糙泄漏检测可以是激光吸收方法例如红外和/或可见光谱和/或紫外激光吸收方法等。所有上述文献的内容同样地通过具体地涉及泄漏检测的参考而并入本文。
虽然第一次、粗糙泄漏检测步骤用来阻止明显泄漏容器进入质量频谱仪泄漏检测步骤,但是明显泄漏容器仍然可能会污染在其内实施粗糙泄漏检测步骤的测试腔到某种程度,就是后续容器例如因液体产品或水而受到污染,需要将受污染的腔移除或者在正在进行的在线处理中加以分流,并且随后需要完全地排除污染。该污染然后被引入到用于质量频谱学测试步骤的测试腔中,从而影响测试结果并且因上面描述的负面后果而可能会污染质量频谱仪本身。
发明内容
因此本发明的目的在于克服现有技术的上述缺陷中的至少一个。
该目的通过一种对密闭、填充容器进行泄漏测试的方法来达到,其中该容器被装载到相应容器支座中。这样被装载的容器然后在其相应容器支座中经受第一泄漏检测步骤,并且基于第一泄漏检测步骤检测为泄漏的任何容器均与其相应容器支座一起被剔除(即该相应容器支座和该容器作为一个单元被剔除)。其后,之前未识别为泄漏的容器在其相应容器支座中经受第二泄漏检测步骤。通过在第一泄漏检测步骤(其通常是用于检测明显泄漏容器的粗糙泄漏检测步骤)之后将明显泄漏容器与其相应容器支座一起进行剔除,从正在泄漏的容器内部释放的任何产品都将保留在容器支座内并且从而将不会污染第一泄漏检测步骤的环境,防止对其它容器和容器支座的交叉污染致使污染到达第二泄漏检测步骤(其通常是用于检测最终泄漏容器的精细泄漏检测步骤)的环境从而污染和损害它。
在除非存在矛盾可以与任何后续实施例结合的实施例中,所述方法还包括将在第二泄漏检测步骤中被识别为泄漏的容器在其相应容器支座中进行剔除的步骤(即该相应容器支座和该容器作为一个单元被剔除),其使得容易隔离可能在第二泄漏检测步骤中已经被泄漏容器污染的容器支座。
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