[发明专利]来自EM场发生器的伪影从3D扫描中的移除有效
申请号: | 201280064607.5 | 申请日: | 2012-12-27 |
公开(公告)号: | CN104023638B | 公开(公告)日: | 2017-02-22 |
发明(设计)人: | A·K·贾殷;R·陈 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦有限公司 |
主分类号: | A61B6/00 | 分类号: | A61B6/00;A61B90/00;G06T11/00;A61B6/12 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司72002 | 代理人: | 李光颖,王英 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 来自 em 发生器 扫描 中的 | ||
1.一种用于将来自EM场发生器的伪影从旋转3D扫描中移除的方法,包括以下步骤:
在操作前,在X射线源和探测器的旋转位置的范围内表征来自所述EM场发生器的所述伪影;
在操作中,确定所述EM场发生器相对于所述X射线源和探测器的位置;并且
将针对确定的所述EM场发生器的相对位置的操作前表征的伪影从当前X射线图像中移除。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,表征所述伪影包括确定针对每个旋转位置处的每个伪影的每个体素的衰减系数,并且其中,移除所述操作前表征的伪影包括从当前X射线图像中减去所述衰减系数。
3.根据权利要求2所述的方法,还包括在显示器上呈现所述伪影被移除的所述当前X射线图像的步骤。
4.根据权利要求3所述的方法,其中,表征所述伪影还包括确定每个伪影的形状。
5.根据权利要求4所述的方法,其中,每个伪影的所述形状是通过使用边缘检测处理来限定所述伪影而确定的。
6.一种用于将来自EM场发生器的伪影从旋转3D扫描中移除的系统,包括:
处理器;
存储器,其能够操作地被连接至所述处理器;以及
指令程序,其被编码在所述存储器上,并且由所述处理器执行,以:
在操作前,在X射线源和探测器的旋转位置的范围内表征来自所述EM场发生器的所述伪影;
在操作中,确定所述EM场发生器相对于所述X射线源和探测器的位置;并且
将针对确定的所述EM场发生器的相对位置的操作前表征的伪影从当前X射线图像中移除。
7.根据权利要求6所述的系统,其中,表征所述伪影包括确定针对每个旋转位置处的每个伪影的每个体素的衰减系数,并且其中,移除所述操作前表征的伪影包括从当前X射线图像中减去所述衰减系数。
8.根据权利要求7所述的系统,还包括显示器,其能够操作地被连接至所述处理器,其中,由所述处理器执行所述指令程序时,所述指令程序在显示器上呈现所述伪影被移除的所述当前X射线图像。
9.根据权利要求8所述的系统,其中,由所述处理器执行的所述指令程序还包括确定每个伪影的形状。
10.根据权利要求9所述的系统,其中,每个伪影的所述形状是通过使用边缘检测处理来限定所述伪影而确定的。
11.一种计算机程序产品,其包括具有被编码在其上的计算机可执行指令程序的计算机可读存储设备,所述计算机可执行指令程序包括:
用于在操作前在X射线源和探测器的旋转位置的范围内表征来自EM场发生器的伪影的程序指令;
用于在操作中确定所述EM场发生器相对于所述X射线源和探测器的位置的程序指令;以及
将针对确定的所述EM场发生器的相对位置的操作前表征的伪影从当前X射线图像中移除的程序指令。
12.根据权利要求11所述的计算机程序产品,其中,用于表征所述伪影的所述程序指令包括用于确定针对每个旋转位置处的每个伪影的每个体素的衰减系数,并且其中,用于移除所述操作前表征的伪影的所述程序指令包括用于从当前X射线图像中减去所述衰减系数的程序指令。
13.根据权利要求12所述的计算机程序产品,还包括用于在显示器上呈现所述伪影被移除的所述当前X射线图像的程序指令。
14.根据权利要求13所述的计算机程序产品,其中,用于表征所述伪影的所述程序指令还包括用于确定每个伪影的形状的程序指令。
15.根据权利要求14所述的计算机程序产品,其中,用于确定每个伪影的所述形状的所述程序指令通过使用边缘检测处理来限定所述伪影,从而确定每个伪影的所述形状。
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