[发明专利]导电性构件、处理盒和电子照相设备有效

专利信息
申请号: 201280060712.1 申请日: 2012-11-01
公开(公告)号: CN103975278B 公开(公告)日: 2016-10-19
发明(设计)人: 杉山辽;草场隆;漆原圣平;宇野真史 申请(专利权)人: 佳能株式会社
主分类号: G03G15/08 分类号: G03G15/08;C08K3/04;C08L83/05;C08L83/07;G03G21/18
代理公司: 北京魏启学律师事务所 11398 代理人: 魏启学
地址: 日本东京都大*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 导电性 构件 处理 电子 照相 设备
【说明书】:

技术领域

本发明涉及可用于电子照相设备中的显影构件等的导电性构件,和处理盒以及电子照相设备。

背景技术

显影构件用于将调色剂容器中的调色剂输送至感光构件,并且用于借助于显影构件与感光构件之间形成的显影电场用调色剂使感光构件的表面上的图像显影。此时,由于施加至作为调色剂调节构件的显影刮板的偏压使得带电调色剂的相反电荷流入显影构件的表面。由于此类电荷在短时间内衰减,因此即使当电荷临时残留在显影构件的表面时,电荷也缓和直到电荷到达显影构件接近感光构件的位置,即,显影位置,因此电荷对显影电场几乎无影响。

然而,与近几年电子照相设备的处理速度的增长相关,已经开始要求增长显影构件的旋转速度。在这种情况下,开始于电荷流入显影构件的表面并且结束于电荷到达显影位置的时间缩短。因此,有时,无法获得缓和显影构件表面上的电荷的充分的时间,因此电荷残留在表面。结果,显影构件的表面上的残留电荷有时影响显影电场,因此在图像形成时出现图像浓淡。因此,用于降低显影构件表面上的残留电荷的不均匀的技术已变得重要。

此外,在具有由通过将炭黑分散获得的硅橡胶混合物形成的导电性弹性层的显影构件表面上的残留电荷的状态依赖于弹性层中的炭黑的分散状态。因此,为了可以使此类显影构件表面上的电荷的残留状态均匀,显影构件的表面和内部各自的炭黑的分散状态的均匀化是重要的。

为了解决此类问题,专利文献1公开了如下所述获得设置有显示体积电阻率的微小变化的硅橡胶层的导电性辊。将包含在其一个分子内具有两个以上烯基并且具有0.1-300Pa·s的在23℃的温度下的粘度的含烯基聚有机硅氧烷和导电性炭黑的共混物捏合,使得在23℃的温度下其可塑度可以为100-1,000。将含烯基聚有机硅氧烷进一步共混至捏合产物中以形成具有1-1,000Pa·s的在23℃的温度下的表观粘度的液态导电性硅橡胶混合物。然后,将混合物的固化物缠绕在芯棒的周围并且固化。

引文列表

专利文献

专利文献1:日本专利申请特开2005-113031

发明内容

发明要解决的问题

然而,通过由本发明的发明人进行的研究认识到,在炭黑在硅橡胶中的分散状态方面,仍需要改进通过根据专利文献1的方法获得的导电性硅橡胶混合物。

鉴于上述,本发明的目的是提供显示电荷的残留状态的微小不均匀的导电性构件。此外,本发明的目的是提供能够提供高品质的电子照相图像的处理盒和电子照相设备。

用于解决问题的方案

根据本发明的一方面,提供一种导电性构件,其包括:具有导电性表面的基材;和设置在基材上的导电性弹性层,其中弹性层通过将包含以下(A)-(D)的混合物固化而获得:

(A)具有至少两个键合至硅原子的乙烯基的有机聚硅氧烷;

(B)由以下化学结构式(1)表示的有机聚硅氧烷:

化学结构式(1)中的l、m和n各自独立地表示正整数;

(C)具有至少两个氢硅烷基(hydrosilyl)的氢聚硅氧烷(hydrogen polysiloxane);和

(D)炭黑。

发明的效果

根据本发明,提供抑制由弹性层上电荷残留状态的不均匀导致的电子照相图像的不均匀的发生的导电性构件。此外,根据本发明,提供能够提供高品质的电子照相图像的处理盒和电子照相设备。

附图说明

图1为与根据本发明的显影辊的长度方向垂直的截面图。

图2为根据本发明的电子照相处理盒的截面图。

图3为根据本发明的电子照相设备的截面图。

具体实施方式

图1为与根据本发明的导电性构件的实施方案的显影辊1的长度方向垂直的截面图。显影辊1具有:作为其表面为导电性的基材的圆柱状或中空圆筒状的导电性芯轴2;和形成于芯轴的周围的弹性层3。显影辊1可进一步具有如设置在弹性层3的外周的表面层4的层。

以下,详细描述图1的显影辊1。

<弹性层3>

通过将包含以下(A)-(D)的混合物固化而形成弹性层3:

(A)具有至少两个键合至硅原子的乙烯基的有机聚硅氧烷;

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