[发明专利]存储控制器和数据存储装置在审

专利信息
申请号: 201280053484.5 申请日: 2012-03-30
公开(公告)号: CN103917964A 公开(公告)日: 2014-07-09
发明(设计)人: 竹内健;田中丸周平 申请(专利权)人: 国立大学法人东京大学
主分类号: G06F12/16 分类号: G06F12/16
代理公司: 北京市中咨律师事务所 11247 代理人: 段承恩;徐健
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 存储 控制器 数据 装置
【权利要求书】:

1.一种存储控制器,在向具有多个非易失性存储单元的非易失性存储器写入数据时,控制所述非易失性存储器以使得通过使用了对数似然比的运算将应写入的数据编码为能够解码的预定的码,并且将该编码后的编码数据存储于所述非易失性存储器,在从所述非易失性存储器读取数据时,控制所述非易失性存储器以使得从所述非易失性存储器读取预先确定的预定大小的编码数据,并且通过使用了所述对数似然比的运算对所述编码数据进行解码,所述存储控制器具备:

比特错误率算出部,其在从所述非易失性存储器读取了预先确定的预定大小的编码数据时,算出比特错误率,该比特错误率为所述读取出的预定大小的数据中发生比特反转错误的比特数相对于所述读取出的预定大小的数据的总比特数的比例;

推定单元错误概率设定部,其对所述读取出的所述预定大小的数据的所有比特执行推定单元错误概率设定处理,该推定单元错误概率设定处理基于所述算出的比特错误率、目标单元的数据、以及所述目标单元的周围的预定范围的非易失性存储单元的数据来设定推定单元错误概率,所述目标单元为存储有所述读取出的所述预定大小的数据中的1比特的所述非易失性存储单元,所述推定单元错误概率为在所述目标单元发生比特错误的概率的推定值;以及

对数似然比设定部,其使用所述设定的推定单元错误概率对所述读取出的所述预定大小的数据的所有比特设定所述对数似然比。

2.根据权利要求1所述的存储控制器,

所述推定单元错误概率设定处理是使用所述算出的比特错误率来设定推定保留时间,并使用该设定的推定保留时间、所述目标单元的数据、以及所述目标单元的周围的所述预定范围的非易失性存储单元的数据来设定所述推定单元错误概率的处理,所述推定保留时间为不对所述非易失性存储器读写数据而持续保持的时间的推定值。

3.根据权利要求2所述的存储控制器,具备:

第1表格存储部,其存储作为所述比特错误率与所述推定保留时间的关系而预先确定的第1表格;和

第2表格存储部,其存储作为所述推定保留时间、所述目标单元的数据、所述目标单元的周围的所述预定范围的非易失性存储单元的数据、以及所述推定单元错误概率的关系而预先确定的第2表格,

所述推定单元错误概率设定处理是使用所述算出的比特错误率和所述第1表格来设定所述推定保留时间,并使用所述设定的推定保留时间、所述目标单元的数据、所述目标单元的周围的所述预定范围的非易失性存储单元的数据、以及所述第2表格来设定所述推定单元错误概率的处理。

4.根据权利要求2或3所述的存储控制器,

还具备对改写次数进行计数的改写次数计数部,所述改写次数为所述非易失性存储器所存储的数据被擦除的次数,

所述推定单元错误概率设定处理是使用所述计数得到的改写次数、所述设定的推定保留时间、所述目标单元的数据、以及所述目标单元的周围的所述预定范围的非易失性存储单元的数据来设定所述推定单元错误概率的处理。

5.根据权利要求4所述的存储控制器,

所述第2表格是作为所述改写次数、所述推定保留时间、所述目标单元的数据、所述目标单元的周围的所述预定范围的非易失性存储单元的数据、以及所述推定单元错误概率的关系而预先确定的表格,

所述推定单元错误概率设定处理是使用所述计数得到的改写次数、所述设定的推定保留时间、所述目标单元的数据、所述目标单元的周围的所述预定范围的非易失性存储单元的数据、以及所述第2表格来设定所述推定单元错误概率的处理。

6.根据权利要求4或5所述的存储控制器,

所述第1表格是作为所述比特错误率、所述推定保留时间以及所述改写次数的关系而预先确定的表格,

所述推定单元错误概率设定处理是使用所述算出的比特错误率、所述改写次数以及所述第1表格来设定所述推定保留时间的处理。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的存储控制器,

所述比特错误率算出部,在向所述非易失性存储器写入数据时,在将应写入的数据编码为所述预定的码之前,将所述应写入的数据中所述预定大小的数据的、所述非易失性存储器所存储的数据中的“1”或“0”的数据的比特数作为编码前比特数而存储,在从所述非易失性存储器读取了所述预定大小的数据时,使用所述读取出的数据的“1”或“0”的数据的比特数和所述编码前比特数来算出所述比特错误率。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于国立大学法人东京大学,未经国立大学法人东京大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201280053484.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top