[发明专利]触摸面板有效

专利信息
申请号: 201280046972.3 申请日: 2012-07-27
公开(公告)号: CN103858079A 公开(公告)日: 2014-06-11
发明(设计)人: 安藤正道 申请(专利权)人: 株式会社村田制作所
主分类号: G06F3/041 分类号: G06F3/041;G06F3/044
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 舒艳君;李洋
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 触摸 面板
【说明书】:

技术领域

本发明涉及对用手指等操作输入的位置和该操作时的按压量进行检测的触摸面板。

背景技术

以往,设计了各种触摸面板,该触摸面板通过操作者用手指等触摸平面状的操作面,来同时检测该触摸位置和触摸时的按压量。

例如,在专利文献1中记载了一种使平板状的压敏传感器和检测触摸位置的触摸面板密接且重叠的结构的触摸输入装置。在该触摸输入装置中,触摸位置由触摸面板检测出。按压量由与触摸面板分开形成且与该触摸面板重叠的压敏传感器检测出。

专利文献1:日本特开平5-61592号公报

然而,专利文献1所记载的触摸输入装置为了检测触摸位置和按压量,需要分别使用触摸面板和压敏传感器,并重叠它们。因此,触摸输入装置的厚度成为将触摸面板的厚度和压敏传感器的厚度相加后的厚度以上,从而不易形成薄型。

另外,在欲形成透光性高的触摸输入装置的情况下,在专利文献1所记载的结构中,不能获得比将触摸面板的透光性和压敏传感器的透光性相加后的透光性更高的透光性。因此,成为了透光性比较低的触摸面板输入装置。

发明内容

鉴于此,本发明的目的在于提供一种能够检测触摸位置和按压量的薄型的触摸面板。

(1)本发明的触摸面板具备具有相互对置的第1主面和第2主面的平膜状的压电薄膜,并且具备被配置在压电薄膜的第1主面侧或者第2主面侧中的至少任意一侧的静电电容检测用电极。静电电容检测用电极检测触摸位置。触摸面板具备被配置在压电薄膜的第1主面侧及第2主面侧的压电电压检测用电极。压电电压检测用电极检测与针对压电薄膜的按压量相对应的压电电压。

根据该结构,如果将1枚压电薄膜的第1主面作为操作面,且操作者触摸该操作面,则在触摸位置的静电电容发生变化。通过被配置在第1主面侧或者第2主面侧中的至少任意一侧的静电电容检测用电极,检测该静电电容的变化,从而检测出触摸位置。另外,通过被配置在第1主面侧及第2主面侧的压电电压检测用电极,得到压电电压。因为压电电压依赖于按压量,所以通过得到压电电压,而检测出按压量。因此,由1枚压电薄膜及其两面的电极检测触摸位置和按压量,能够薄型地形成触摸面板。

(2)另外,优选本发明的触摸面板的压电薄膜由至少沿一轴向进行了拉伸处理的聚乳酸构成。

根据该结构,因为单向拉伸了的聚乳酸,压电常数高,且介电常数低,所以如果使用聚乳酸来作为压电薄膜的材料,则由触摸引起的按压量的检测灵敏度变高,且由触摸引起的静电电容的变化的检测灵敏度也变高。由此,成为仅为1枚压电薄膜的结构,并且与以往的使静电电容检测用的触摸面板与压敏传感器重叠的结构相比,能够对触摸位置及按压量这双方进行高精度的检测。并且,因为聚乳酸与丙烯酸树脂相同透光性高,所以也能够实现透光性高的触摸面板。而且,因为聚乳酸没有热电性,所以当手指等触碰触摸面板表面时,即使传递体温,也不对按压量(按压力)的检测电压造成影响。因此,在使用聚乳酸作为压电薄膜的材料的情况下,若与使用PVDF等具有热电性的压电薄膜的情况相比较,则不需要为了不传递体温而附加间接地传递按压力那样的复杂的结构。

(3)另外,优选本发明的触摸面板是如下结构。静电电容检测用电极具备:由沿与第1主面及第2主面平行的第1方向延伸的形状构成,并且在与第1主面及第2主面平行且与第1方向交叉的第2方向拉开间隔而配置的多个第1静电电容检测用子电极;由沿第2方向延伸的形状构成,且在第1方向拉开间隔而配置的多个第2静电电容检测用子电极。压电电压检测用电极具备形成在第1主面的第1压电电压检测用子电极和形成在第2主面的第2压电电压检测用子电极。第1静电电容检测用子电极和第1压电电压检测用子电极形成在同一平面。

根据该结构,通过静电电容检测用电极包括沿第1方向延伸的第1静电电容检测用子电极和沿与第1方向交叉的第2方向延伸的第2静电电容检测用子电极,能够以二维坐标检测触摸位置。而且,因为第1静电电容检测用子电极和第1压电电压检测用子电极在同一平面内,所以能够使触摸面板薄型化。

(4)另外,对于本发明的触摸面板而言,第1压电电压检测用子电极形成在构成多个第1静电电容检测用子电极的各个第1静电电容检测用子电极之间。

根据该结构,能够高效地将第1静电电容检测用子电极和第1压电电压检测用子电极配置在同一平面内。

(5)另外,对于本发明的触摸面板而言,优选第1静电电容检测用子电极形成在第1主面,第2静电电容检测用子电极形成在第2主面。

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