[发明专利]具有灰尘干扰抑制的颗粒探测器

说明书

技术领域

本发明涉及用于探测空气体积内的颗粒的感测系统所采用的颗粒探测器。更特别地（尽管是非排它的），本发明涉及吸气式烟雾探测器。然而，本发明不限于这个特定的应用，用于探测空气体积内的颗粒的其它类型的感测系统也包含在本发明的范围内。

背景技术

由于暴露在灰尘中，会错误触发烟雾探测系统。在吸气式烟雾探测系统中，为了减少灰尘从而避免错误报警，已实施了多种分析解法。在光散射式烟雾探测系统中，通过使用时间幅度分析（灰尘易于在散射信号中产生随后可以被清除的尖脉冲）或通过使用多个光的波长、多个偏振、多个视场角、惯性分离、机械过滤（例如穿过诸如泡沫状物的渗透材料）或上述的结合可以实现对灰尘的鉴别或干扰抑制（rejection）。

上文提到的方法执行动作，以优选地在大颗粒到达探测器之前将其清除或优选地减弱由大颗粒产生信号（例如尖脉冲的探测和清除）。因而，与其降低由烟雾产生的信号水平相比，这些方法更多地降低了由灰尘产生的信号水平。这是因为相比于烟雾，灰尘包含更多的大颗粒。

虽然通过在散射的光电平中探测尖脉冲可以对灰尘进行探测，但是，担心这个方法在高灰尘水平的场所对由灰尘合并产生的尖脉冲（由于多个颗粒同时出现在探测区域内）不是那么有效。

因此，本发明的目的是提供一种改进的具有灰尘探测的感测系统（该感测系统可以解决上文提到的缺点），或至少向公众提供一个优于已知系统的选择。

在说明书中对任何现有技术的引用不是（且不应被当作）认可或任何形式的建议，即该现有技术在澳大利亚或任何其它管辖范围内构成普通常识的一部分，或者，该现有技术可以被合理地期望是由本领域技术人员确认成、理解成并看成是相关的。

发明内容

在一个方面，本发明提供一种颗粒探测的方法，包括：

对被监控的空气体积的第一空气样本进行分析，确定第一空气样本中第一颗粒的水平；

对空气体积的第二空气样本进行分析，确定第二空气样本中第二颗粒的水平；

根据至少一个第一报警标准对第一空气样本中第一颗粒的水平和/或第二空气样本中第二颗粒的水平进行处理；

在符合至少一个标准的情况下：

根据至少一个第二报警标准执行第一空气样本中第一颗粒的水平和第二空气样本中第二颗粒的水平的相异处理；在符合一个第二报警标准的情况下：

执行动作。

执行动作的步骤可以包括发送信号，例如表示报警或故障状态、报警或故障状态的改变、预先报警或预先故障状态的信号或其它信号、表示第一或第二颗粒中任一个的或两者的水平的信号。

第一空气样本和第二空气样本可以取自普通的空气样本流，例如，子采样自空气管道中的主流，分流自相同的空气样本流，等等。可选地，例如使用单独的空气采样系统，它们还可以分别取自被监控的体积。该方法可以包括限制第二空气样本以产生第一空气样本，例如第二空气样本可以被过滤以形成第一空气样本。

可以同时、连续或交替地对第一空气样本和第二空气样本进行分析。而且，对第二空气样本的分析仅发生在第一空气样本中第一颗粒的水平符合至少一个第一报警标准的情况下。

第二颗粒可以包括第一颗粒，例如第一颗粒可以是第二颗粒的子集。第二颗粒优选地包括感兴趣颗粒（即试图被探测的颗粒）和干扰颗粒，然而第一颗粒优选地基本不包括干扰颗粒，例如，第二颗粒包括灰尘和烟雾颗粒，而第一颗粒是烟雾颗粒。由于颗粒探测中使用的大部分过滤系统（例如泡沫状物过滤器、静电过滤器、气旋分离器）的统计属性，完全清除一种颗粒类型通常是不可能的。然而，即使在颗粒类别的分离中存在这种程度的不确定，仍然可以达到积极的效果。因此，应当理解的是，从第一空气样本中完全排除所有干扰颗粒是不可能的，从而第一颗粒会包括一些干扰颗粒。

根据本发明的第二方面，提供了一种用于对空气体积中的颗粒进行探测的感测系统，该感测系统包括：

从空气体积的入口，用于将空气流引入感测系统；

第一空气流通路，用于将来自入口的空气流的第一部分引导至第一探测室，第一探测室包括用于探测空气流的第一部分内颗粒水平的探测构件并输出表示空气流的第一部分内颗粒水平的第一信号；

第二空气流通路，用于将来自入口的空气流的第二部分引导至第二探测室，第二探测室包括用于探测空气流的第二部分内的颗粒的探测构件并输出表示空气流的第二部分内的颗粒水平的第二信号；

颗粒减少构件，被布置在第一空气流通路中，位于第一探测室的上游；