[发明专利]飞行时间型质量分析装置

权利要求书

1.一种飞行时间型质量分析装置，是正交加速方式的飞行时间型质量分析装置，具备：正交加速部，其使入射而来的离子向与该离子的入射轴正交的方向加速；以及离子入射光学系统，其将离子送入到该正交加速部，该飞行时间型质量分析装置的特征在于，

上述离子入射光学系统具备：

a)静电透镜，其包括沿着离子光轴配置的五个以上的圆筒状电极；

b)电压施加单元，其向上述圆筒状电极分别施加电压以使上述静电透镜成为无焦点系统；以及

c)光圈单元，其在通过上述电压施加单元施加电压以使上述静电透镜成为无焦点系统的状态下，配置在由上述五个以上的圆筒状电极的一部分电极形成的前级虚拟凸透镜和由该五个以上的圆筒状电极的一部分电极形成的后级虚拟凸透镜的共同的焦点面上，并且在离子光轴上具有规定大小的开口。

2.根据权利要求1所述的飞行时间型质量分析装置，其特征在于，

上述电压施加单元能够向上述圆筒状电极分别施加电压以使上述静电透镜成为偏离无焦点条件的规定的非无焦点系统，能够通过变更从该电压施加单元向上述圆筒状电极施加的电压的设定来切换使质量分辨率优先的动作模式和使灵敏度优先的动作模式。

3.根据权利要求1或2所述的飞行时间型质量分析装置，其特征在于，

上述光圈单元的开口形状是以离子光轴为中心的圆形。

4.根据权利要求1或2所述的飞行时间型质量分析装置，其特征在于，

上述光圈单元的开口形状是以离子光轴为中心的长方形或椭圆形。

5.根据权利要求1～4中的任一项所述的飞行时间型质量分析装置，其特征在于，

构成上述静电透镜的多个圆筒状电极中的位于最入口侧的初级的圆筒状电极的前缘部的形状是在其顶部形成了离子入射开口的缝隙形状。

6.根据权利要求1～5中的任一项所述的飞行时间型质量分析装置，其特征在于，

在构成上述静电透镜的多个圆筒状电极中的位于最入口侧的初级的圆筒状电极的前缘部形成的离子入射开口的形状是圆形。

7.根据权利要求1～5中的任一项所述的飞行时间型质量分析装置，其特征在于，

在构成上述静电透镜的多个圆筒状电极中的位于最入口侧的初级的圆筒状电极的前缘部形成的离子入射开口的形状是长方形或椭圆形。

8.根据权利要求1～7中的任一项所述的飞行时间型质量分析装置，其特征在于，

上述静电透镜是在进行驱动以使该静电透镜成为无焦点系统的状态下形成的上述前级虚拟凸透镜的中心与物点之间的距离和在相同状态下形成的上述后级虚拟凸透镜的中心与像点之间的距离相等的对称配置。

9.根据权利要求1～7中的任一项所述的飞行时间型质量分析装置，其特征在于，

上述静电透镜是在进行驱动以使该静电透镜成为无焦点系统的状态下形成的上述前级虚拟凸透镜的中心与物点之间的距离和在相同状态下形成的上述后级虚拟凸透镜的中心与像点之间的距离不同的非对称配置。

10.根据权利要求1～9中的任一项所述的飞行时间型质量分析装置，其特征在于，

上述电压施加单元向多个上述圆筒状电极分别施加电压以在离子通过上述静电透镜的前后使该离子加速或减速。

11.根据权利要求1～10中的任一项所述的飞行时间型质量分析装置，其特征在于，

从生成离子的离子源射出的离子被直接导入上述静电透镜。

12.根据权利要求1～10中的任一项所述的飞行时间型质量分析装置，其特征在于，

在生成离子的离子源与上述静电透镜之间具备离子导向器。

13.根据权利要求1～10中的任一项所述的飞行时间型质量分析装置，其特征在于，

在上述静电透镜的前级配置有促进离子的分解的碰撞单元，通过该碰撞单元生成的碎片离子被导入到上述静电透镜。

14.根据权利要求1～10中的任一项所述的飞行时间型质量分析装置，其特征在于，

在上述静电透镜的前级配置有具有保持离子的功能的离子阱，从该离子阱射出的离子被导入到上述静电透镜。