[实用新型]一种熔指仪的位移测量装置有效
| 申请号： | 201220742132.8 | 申请日： | 2012-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN203037550U | 公开（公告）日： | 2013-07-03 |
| 发明（设计）人： | 覃碧勋;李卫 | 申请（专利权）人： | 东莞市普凯塑料科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N11/06 | 分类号： | G01N11/06 |
| 代理公司： | 广州三环专利代理有限公司 44202 | 代理人： | 张艳美;郝传鑫 |
| 地址： | 523000 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 熔指仪 位移 测量 装置 | ||
【权利要求书】：
1.一种熔指仪的位移测量装置，包括料筒、活塞和放置砝码的托板；其特征在于：活塞四周还设有阻挡装置。
2.根据权利要求1所述熔指仪的位移测量装置，其特征在于：所述阻挡装置为至少两个阻挡条，所述料筒顶端面，围绕活塞开设有用于插设阻挡条的插孔，阻挡条插设在插孔内。
3.根据权利要求1所述熔指仪的位移测量装置，其特征在于：所述阻挡条之间还设有连接阻挡条的连接件。
4.根据权利要求1所述熔指仪的位移测量装置，其特征在于：所述阻挡装置为中空的网框，所述网框底端设有至少两插脚，所述料筒顶端面，围绕活塞开设有用于插设网框插脚的插孔。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于东莞市普凯塑料科技有限公司，未经东莞市普凯塑料科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201220742132.8/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：基于反射式太赫兹光谱第一镜表面杂质分析装置
- 下一篇：一种污泥比阻的测量装置
