[实用新型]一种LCD产品响应速度测试仪器

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种响应速度测试仪器，特别涉及一种LCD产品响应速度测试仪器。

背景技术

显示技术日新月异，随着LCD产品更新换代的速度越来越快，客户对产品的响应速度的要求也越来越高，现已有方案主要通过购买专用的测试仪器，这些仪器不但费用昂贵，而且操作起来需要专业的人才能操作。测试时耗费的时间也比较长。

所谓响应时间是液晶显示器各象素点对输入信号反应的速度，即象素由暗转亮或由亮转暗所需要的时间。响应时间越小则使用者看动态画面越不会有尾影拖曳的感觉。其原始是在液晶盒内施加电压，使液晶分子扭转与回复。一般响应时间分为两个部分：上升时间和下降时间；我们所说的响应时间指的就是两者之和。究其原理为：给液晶显示器一个电压信号后测试出该液晶显示器在电场作用下的透过率由90%降到10%和由10%升到90%所需要的时间。现有响应速度测试技术是通过专业的测试设备对液晶显示器给一个测试电压，液晶显示器盒内的液晶分子通过自身的光双折射特性来表现出液晶分子的扭转和回复快慢。因为采用专业的设备来测试响应速度，所以存在着测试仪器结构复杂，操作繁琐，成本高，测试速度慢的问题。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种LCD产品响应速度测试仪器，解决现有LCD产品响应速度测试仪器结构复杂，操作繁琐，成本高，测试速度慢的问题。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：一种LCD产品响应速度测试仪器，包括垫板，设置在垫板上的背光源，设置在背光源两侧的支撑结构，设置在支撑结构上端的带感光电路的硅光电池，硅光电池位于背光源的正上方，感光电路与示波器相连接；测试时，将闪烁状态的待测试LCD产品放置在硅光电池和背光源之间，背光源保持常亮状态，背光源的光透过LCD产品传给硅光电池，硅光电池将光信号转换成电信号并通过感光电路将电信号传给示波器，通过示波器波形的变换来检测LCD产品的响应速度。

优选的，所述硅光电池底面积大于LCD产品底面积。

优选的，所述的背光源的覆盖面积大于LCD产品的底面积。

本实用新型的有益效果：通过含背光源、LCD、带硅光电池的感光电路、示波器的测试设备来实现LCD响应速度的测试，测试设备结构简单，易操作，成本低，且测试速度较快。硅光电池底面积大于LCD产品底面积，背光源的覆盖面积大于LCD产品底面积，使得测试效果更好，且精确。

本实用新型结构简单，易操作，成本低，且测试速度快可广泛应用于LCD响应速度测试领域。

下面结合附图和实施例，对本实用新型作进一步详细说明。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图。

具体实施方式

请参阅图1，如图所示，一种LCD产品响应速度测试仪器，包括垫板1，设置在垫板1上的背光源2，设置在背光源2两侧的支撑结构3，设置在支撑结构3上端的带感光电路6的硅光电池5，硅光电池5位于背光源2的正上方，感光电路6与示波器相连接；测试时，将闪烁状态的待测试LCD产品4放置在硅光电池5和背光源2之间，背光源2保持常亮状态，背光源2的光透过LCD产品4传给硅光电池5，硅光电池5将光信号转换成电信号并通过感光电路6将电信号传给示波器，通过示波器波形的变换来检测LCD产品4的响应速度。所述硅光电池5底面积大于LCD产品4底面积。所述的背光源2的覆盖面积大于LCD产品4的底面积。LCD产品4的闪烁指的是LCD产品4由暗到亮和由亮到暗的状态变化。响应速度的测试应在标准暗室中进行，亮度信号测试点通常选取在LCD的中心位置。驱动信号发生器产生可反转的平场信号驱动显示器由暗到亮和由亮到暗。