[实用新型]变压器绕组变形自动巡检装置有效
申请号: | 201220641323.5 | 申请日: | 2012-11-28 |
公开(公告)号: | CN203084139U | 公开(公告)日: | 2013-07-24 |
发明(设计)人: | 滕佳馨 | 申请(专利权)人: | 滕佳馨 |
主分类号: | G01R31/06 | 分类号: | G01R31/06 |
代理公司: | 西安创知专利事务所 61213 | 代理人: | 谭文琰 |
地址: | 710129 陕西省西安*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 变压器 绕组 变形 自动 巡检 装置 | ||
技术领域
本实用新型属于变压器绕组变形检测技术领域,尤其是涉及一种变压器绕组变形自动巡检装置。
背景技术
变压器是电力系统中的重要设备之一,其运行的稳定性对整个电力系统的安全运行影响极大,变压器发生事故后往往会给电力部门带来巨大的经济损失和不良的社会影响。实际运行过程中,当变压器发生外部短路后,特别是发生近区短路后,通过对变压器绕组进行变形测试,可以加强对变压器的监督和监护,起到了其他试验项目无法替代的作用。为了能及时发现绕组变形较严重但却仍在运行的电力变压器。目前,世界各国都在积极开展变压器绕组变形诊断工作,国内外先后提出的用于检测变压器绕组变形的各种方法。实际使用过程中,变压器发生匝间或相间短路、在运输过程中发生冲撞、在运行过程中在短路和故障状态下因电磁拉力等情形都会造成线圈变形。但现如今所使用的变压器绕组变形检测装置通常都是由人为进行操控使用,且一般都是人为发现可能影响绕组变形的情形后,再采用绕组变形测试仪进行测试,并根据测试结果判断变压器是否遭到损坏,也就是说,变压器的绕组变形测试时间完全由人为确定,因而不能及时发现变压器绕组变形问题,并且需要投入较大的人力、物力。综上,现如今缺少一种设计合理、接线方便、使用操作简便且智能化程度高、使用效果好的变压器绕组变形自动巡检装置,其能按照预先设定的巡检频率和巡检方案自动对所检测变压器的绕组变形情况进行定时、全面检测,也能由人为对检测时间进行自主设定,使用操作方式灵活,能及时发现变压器绕组变形问题。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题在于针对上述现有技术中的不足,提供一种变压器绕组变形自动巡检装置,其设计合理、接线方便、使用操作简便且智能化程度高、使用效果好,能按照预先设定的巡检频率和巡检方案自动对所检测变压器的绕组变形情况进行定时检测,并能将测试结果同步上传至上位监控器。
为解决上述技术问题,本实用新型采用的技术方案是:一种变压器绕组变形自动巡检装置,其特征在于:包括数据处理器、对被检测变压器绕组中各绕组线圈的幅频响应特性进行测试的幅频响应特性测试电路、对幅频响应特性测试电路中的幅频响应特性测试结果进行自动存储记录的数据存储单元一、对幅频响应特性测试电路所用正弦波激励源的频率进行调控的控制器一、用于输入变形测试过程中正弦波激励源的频率随测试时间变化曲线的参数输入单元、对变形测试过程中正弦波激励源的频率随时间变化曲线进行存储的数据存储单元二、将幅频响应特性测试电路的幅频响应特性测试结果同步上传至上位监控器的数据传输模块、对被检测变压器的绕组变形测试时间进行人为设定的定时电路、通过按键电路与数据处理器相接的变形测试控制按键以及分别与数据处理器相接的时钟电路、数据传输接口和电源模块,所述幅频响应特性测试电路的输出端与数据处理器相接,所述数据存储单元一、参数输入单元、数据存储单元二、数据传输模块、定时电路和按键电路均与数据处理器相接,所述控制器一与正弦波激励源相接;所述数据处理器为ARM微处理器。
上述变压器绕组变形自动巡检装置,其特征是:所述数据处理器与对所检测变压器进行启停控制的控制器二相接。
上述变压器绕组变形自动巡检装置,其特征是:还包括由数据处理器进行控制的显示单元,所述显示单元与数据处理器相接。
上述变压器绕组变形自动巡检装置,其特征是:所述数据传输模块为无线通信模块。
本实用新型与现有技术相比具有以下优点:
1、结构简单、体积小且电路设计合理,投入成本低,安装布设简便。
2、电路简单且接线方便。
3、使用操作简单、智能化程度高且显示效果直观。
4、使用效果好且实用价值高,能按照预先设定的巡检频率和巡检方案自动对所检测变压器的绕组变形情况进行定时、全面检测,也能由人为对检测时间进行自主设定,使用操作方式灵活,能及时发现变压器绕组变形问题。
综上所述,本实用新型设计合理、接线方便、使用操作简便且智能化程度高、使用效果好,能按照预先设定的巡检频率和巡检方案自动对所检测变压器的绕组变形情况进行定时检测,并能将测试结果同步上传至上位监控器。
下面通过附图和实施例,对本实用新型的技术方案做进一步的详细描述。
附图说明
图1为本实用新型的电路原理框图。
附图标记说明:
1—幅频响应特性测试电路; 2—数据存储单元一; 3—控制器一;
4—参数输入单元; 5—数据存储单元二; 6—上位监控器;
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