[实用新型]一种热电性能测量装置有效

专利信息
申请号: 201220543924.2 申请日: 2012-10-23
公开(公告)号: CN202854290U 公开(公告)日: 2013-04-03
发明(设计)人: 潘建根 申请(专利权)人: 杭州远方光电信息股份有限公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26;G01M11/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 310053 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 热电 性能 测量 装置
【权利要求书】:

1.一种热电性能测量装置,包括机箱(1)和控制单元(2),其特征在于,所述的机箱(1)内设置有控制待测器件(3)指定部位温度的温控装置(5)、为待测器件(3)提供静态空气环境的测试箱(6)、为待测器件(3)供电的驱动模块(4)和电参数测量模块(7),所述的控制单元(2)与驱动模块(4)、电参数测量模块(7)和温控装置(5)均电连接。

2.如权利要求1所述的一种热电性能测量装置,其特征在于,所述的温控装置(5)与测试箱(6)相对独立设置,并且在温控装置(5)和测试箱(6)内都分别设置有与驱动模块(4)和电参数测量模块(7)电连接的接口,所述的待测器件(3)位于温控装置(5)或测试箱(6)内、并通过电连接接口与驱动模块(4)和电参数测量模块(7)均电连接。

3.如权利要求1或2所述的一种热电性能测量装置,其特征在于,所述的温控装置(5)内设有温控平台(8),所述的待测器件(3)与温控平台(8)相接触。

4.如权利要求1或2所述的一种热电性能测量装置,其特征在于,所述的测试箱(6)内部设有测量端口(9) 以及一个或者多个用于监测测试箱(6)内部温度和/或待测器件(3)指定参考点温度的温度传感器(10),所述的待测器件(3)安装在测量端口(9)上。

5.如权利要求1所述的一种热电性能测量装置,其特征在于,还包括光参数测量模块(11),所述的光参数测量模块(11)由积分球(12)和测光装置(13)组成,所述的待测器件(3)为发光二极管且所述的待测器件(3)置于温控装置(5)的温控平台(8)上,所述的积分球(12)上设有采光窗口(14)和探测窗口(15),待测器件(3)位于采光窗口(14)处,测光装置(13)测量由采光窗口(14)采集的待测器件(3)的光信号,所述的测光装置(13)与控制单元(2)电连接。

6.如权利要求5所述的一种热电性能测量装置,其特征在于,所述的测光装置(13)为光谱辐射计或者光度计。

7.如权利要求5所述的一种热电性能测量装置,其特征在于,所述的机箱(1)上设有用于对测光装置(13)进行定标操作的标准器插口(16),所述的标准器插口(16)与积分球(12)相耦合。

8.如权利要求1所述的一种热电性能测量装置,其特征在于,所述的温控装置(5)或测试箱(6)设置在可进行推拉操作的机构中,或者所述的温控装置(5)或测试箱(6)上设有方便待测器件(3)进出的活动门(17)。

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