[实用新型]测量辅助支架

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种测量制品用的辅助工具，特别是一种测量辅助支架。

背景技术

在进行某些特殊结构或形状产品的测量时，由于制品的复杂性，一部分尺寸不能够直接测量，而需要利用切割工具将制品分解后才能够进行测量。这种测量方式存在诸多问题：首先制品的分割需要一定的时间，降低了测量的速度；其次这种分解属于破坏性分割，浪费了作为测量样品的制品；而且制品在分解过程中因受力而发生变形，造成测量尺寸存在误差；制品在分解时所使用的刀、锯等工具，对操作者来说存在安全隐患；制品分解过程会产生料屑，对周围环境造成影响，而某些特殊材料在分解时还会产生刺激性气味。因此现在需要一种能够解决上述问题的新型装置或方法来达到对制品进行测量。

发明内容

本实用新型是为了解决现有技术所存在的上述不足，提出一种结构简单，设计巧妙，能够在不对制品进行破坏性分解的情况下，对其内部各部分尺寸进行测量的测量辅助支架。

本实用新型的技术解决方案是：一种测量辅助支架，其特征在于：所述的支架包括矩形的基准平台1，在基准平台1内设置有与基准平台的一个边相平行的凹槽2，在凹槽2的对侧设置有两个对称设置的支撑柱3，这两个支撑柱3中心点的连线与凹槽2相平行。

本实用新型同现有技术相比，具有如下优点：

本种结构形式的测量辅助支架，其结构简单，设计巧妙，布局合理。传统的测量复杂制品的方法是将其进行破坏性分解，然后对分解后的各部分进行测量，这种方式存在着诸多问题。本实用新型实施例的支架针对上述缺陷，设计出一个水平的基准平台，在基准平台上设置有凹槽和支撑柱，将制品放置在基准平台上后，制品的底面会与水平面保持平行，从制品的底面开口向内对其内部各部分进行测量，效率高、准确率高，且不需要进行破坏性的切割。并且这种测量辅助支架的制作工艺简单，制造成本低廉，因此可以说它具备了多种优点，特别适合于在本领域中推广应用，其市场前景十分广阔。

附图说明

图1是本实用新型实施例的结构示意图。

图2是本实用新型实施例的工作状态示意图。

具体实施方式

下面将结合附图说明本实用新型的具体实施方式。如图1、图2所示：一种测量辅助支架，这种支架包括一个矩形的基准平台1，这个基准平台1内设置有一个凹槽2，这个凹槽2位于基准平台1的一侧，且与其一个边相互平行；在凹槽2对侧的基准平台1上设置有对称设置的支撑柱3，这两个支撑柱3的中心点连线与凹槽2相互平行。

本实用新型实施例的测量辅助支架的工作过程如下：首先将基准平台1放置在水平面上，将制品倒置的放置在基准平台1上（如图2所示），制品上的凸起边沿卡在凹槽2内，制品较低的一侧被两个支撑柱3支撑，这种状态下制品的底面与基准平台1相互平行，即制品底面处于水平状态，然后通过底面上设置的开口向内测量制品内部各部分的尺寸，这种辅助支架能够在不对制品进行破坏的前提下，对其内部某些结构的尺寸进行测量。