[实用新型]一种暗电平指标可控的成像系统

权利要求书

1.一种暗电平指标可控的成像系统，其特征在于：包括暗电平测试环境、实时图像采集与显示系统以及放置于暗电平测试环境中的光电成像传感器、运算放大器、图像信号处理芯片、开关控制电路、模拟开关和参考电平补偿网络，

所述光电成像传感器的模拟图像信号输出端与运算放大器的输入端+IN连接，所述运算放大器的输出端OUTPUT通过电容与图像信号处理芯片的输入端连接，所述图像信号处理芯片的数字图像信号输出端与实时图像采集与显示系统的输入端连接，

所述参考电平补偿网络通过模拟开关与运算放大器的输入端-IN连接，所述开关控制电路根据光电成像传感器所输出模拟图像信号的哑像元段与有效像元段的时序关系控制模拟开关的闭合与断开。

2.根据权利要求1所述的暗电平指标可控的成像系统，其特征在于：所述图像信号处理芯片包括对输入信号进行偏置钳位的偏置钳位电路、采样保持电路以及A/D转换器，所述偏置钳位电路、采样保持电路以及A/D转换器依次连接。

3.根据权利要求1或2所述的暗电平指标可控的成像系统，其特征在于：所述光电成像传感器为CCD芯片、CMOS芯片或CIS芯片。

4.根据权利要求3所述的暗电平指标可控的成像系统，其特征在于：所述参考电平补偿网络包括能够提供正参考电平的正电源、能够提供负参考电平的负电源、可变电阻R1、可变电阻R2以及电阻R3,所述可变电阻R1一端与正电源连接，所述可变电阻R2的一端与负电源连接，所述可变电阻R1和可变电阻R2的另一端均与电阻R3的一端连接，所述电阻R3的另一端通过模拟开关与运算放大器的输入端-IN连接。