[实用新型]一种测量导线剩余电阻率比的样品架

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种测量导线剩余电阻率比的样品架，尤其涉及一种测量低温超导线材及铜线剩余电阻率比的样品架。

背景技术

目前，随着超导材料在各个领域的广泛应用，如核磁共振成像仪（MRI）、核磁共振谱仪（NMR）、大型粒子加速器及超导储能系统（SMES）及磁约束核聚变装置（Tokamak）的磁体绕制等，对超导线材的性能也提出更高要求。通常，在复合超导体中，铜基体在超导体失超时起着分流作用，能把超导体内部产生的热量传递到周围的冷媒中，从而对磁体起到一定的保护作用，使超导体保持其超导性。因此，基体材料的导电性越好，则分流效果越好，产生的热量越小，对磁体的保护越好。剩余电阻率比（RRR值）就是超导线材重要的性能之一，是衡量基体材料导电性优劣的重要参考指标，R₁为线材在0℃时的电阻，R₂为低温电阻。

现有测量RRR值所用的样品架均为平板状，采用四引线法，杜瓦口径为100mm左右，样品有效长度约为30mm。此样品架用于测量直径为1mm左右的NbTi和Nb₃Sn等超导股线的RRR值时测量效果较好，但是对于大截面积和大铜超比的矩形、槽型超导线或铜线低温下的测量就比较困难，原因是杜瓦口径一般只有100mm，该样品架的样品有效长度为30mm，而在低温下铜的电阻率较低，当导线的截面积增大时电阻减小，导致电阻信号太小不易采集。同时，由于该样品架为单通道，测量中需要多次将样品连同样品架从液氦插入、拔出来完成对多个样品的测量，对液氦的浪费相当大。

发明内容

本实用新型的目的在于提供一种样品有效长度较大的测量剩余电阻率比的样品架，解决大截面积和大铜超比的矩形、槽型超导线或铜线低温下剩余电阻率比测量比较困难的问题。

本发明的目的是这样实现的，一种测量剩余电阻率比的样品架，所述样品架包括圆环状通道。

所述圆环状通道为多个且间隔设置在筒型骨架上。

所述圆环状通道为所述筒型骨架上的多个环形凹槽。

所述样品架上端连有样品杆，所述圆环状通道上设有接线柱且通过线缆与通道转换器连接。

所述圆环状通道为10个。

所述样品架为环氧树脂材料。

本实用新型具有如下有益效果，本实用新型样品架包括圆环状通道，样品弯曲安装在样品架上，可增大样品的有效测量长度，从而增大电阻信号，便于大截面积和大铜超比的矩形、槽型超导线或铜线低温下RRR值的测量；本实用新型在样品架上设置多个圆环状通道且与通道转化器连接，插入液氦后一次可完成对多个样品RRR值的测量，减少了单通道需要多次插拔样品架对液氦造成的浪费，同时提高了工作效率。

附图说明

图1为本实用新型实施例圆环状通道结构示意图；

图2为图1俯视图；

图3为本实用新型实施例样品架结构示意图；

图4为本实用新型实施例样品接线示意图；

图5为本实用新型实施例通道转换器示意图；

图6为本实用新型实施例铜槽线RRR值测量曲线图；

图7为本实用新型实施例铜线RRR值测量曲线图；

图8为本实用新型实施例铌钛超导线RRR值测量曲线图。

图中，1.样品架，2.圆环状通道，3.样品杆，4.线缆，5.通道转化器，CH1.第一通道接线柱，CH2.第二通道接线柱，CH3.第三通道接线柱，CH4.第四通道接线柱，CH5.第五通道接线柱，CH6.第六通道接线柱，CH7.第七通道接线柱，CH8.第八通道接线柱，CH9.第九通道接线柱，CH10.第十通道接线柱。

具体实施方式

一种测量剩余电阻率比的样品架，样品架1上设有10个圆环状通道2，该10个圆环状通道2为环氧树脂筒型骨架上10个环形凹槽，样品架1上端设有样品杆3，圆环状通道2上每个通道设有四个接线柱且通过线缆4与通道转换器5连接。由于RRR值的测量是在4.2K液氦中进行，因此，选用耐低温的环氧树脂作为样品架1材料。