[实用新型]自动加电导通和自动检测的调试设备有效
申请号: | 201220231034.8 | 申请日: | 2012-05-21 |
公开(公告)号: | CN202661578U | 公开(公告)日: | 2013-01-09 |
发明(设计)人: | 祁峰;黄瑞华 | 申请(专利权)人: | 上海航天设备制造总厂 |
主分类号: | G01R31/02 | 分类号: | G01R31/02;G01R19/00 |
代理公司: | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 | 代理人: | 郭国中 |
地址: | 200245 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 自动 电导 自动检测 调试 设备 | ||
1.一种自动加电导通和自动检测的调试设备,其特征在于,包括工控机模块和光耦合器,所述工控机模块与光耦合器相连接。
2.根据权利要求1所述的自动加电导通和自动检测的调试设备,其特征在于,所述工控机模块包括工控机、工控机采集点、控制芯片、电缆总线及控制箱,所述控制箱与光耦合器相连接,所述工控机及工控机采集点的总和分别通过电缆总线与控制芯片相连接。
3.根据权利要求2所述的自动加电导通和自动检测的调试设备,其特征在于,所述控制芯片包括第一控制芯片、第二控制芯片、第三控制芯片和第四控制芯片,所述电缆总线包括工控机地址总线、采集总线、控制总线、输出总线、第一扩展后地址总线及第二扩展后地址总线,其中,所述工控机通过工控机地址总线与第一控制芯片相连接,所述第一控制芯片分别通过第一扩展后地址总线和第二扩展后地址总线与第二控制芯片和第三控制芯片相连接,所述第二控制芯片通过采集总线与工控机相连接,所述工控机通过控制总线与第三控制芯片相连接,所述第三控制芯片通过输出总线与第四控制芯片相连接,所述工控机采集点的总和与第二控制芯片相连接。
4.根据权利要求3所述的自动加电导通和自动检测的调试设备,其特征在于,所述第一控制芯片为IC4515/4514,所述第二控制芯片和第四控制芯片均为IC244,所述第三控制芯片为IC75。
5.根据权利要求2所述的自动加电导通和自动检测的调试设备,其特征在于,所述控制箱包括稳压电源、调试印制板、控制箱面板及控制箱后板,所述稳压电源与光耦合器相连接,所述调试印制板设置在控制箱面板和控制箱后板之间。
6.根据权利要求5所述的自动加电导通和自动检测的调试设备,其特征在于,所述控制箱面板上设有电源开关及加电开关;所述控制箱后板设有电源插座、控制/采集插座。
7.根据权利要求2所述的自动加电导通和自动检测的调试设备,其特征在于,所述工控机采用数据采集卡。
8.根据权利要求1所述的自动加电导通和自动检测的调试设备,其特征在于,所述光耦合器包括第一光耦合器和第二光耦合器,其中,所述工控机模块发出的控制命令信号通过第一电阻与第一光耦合器相连接,所述第一光耦合器包括第一输出点和第二输出点,其中,所述第一输出点与工控机模块的稳压电源正端、电源地或被测电路相连接,所述第二输出端与被测电路相连接;所述电源和工控机模块的工控机采集点分别与第二光耦合器相连接,所述第二光耦合器分别连接第二电阻和第三电阻,所述第二光耦合器包括第一输入点和第二输入点,所述第一输入点和第二输入点分别连接被测电路的检测点。
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