[实用新型]针形测量插头

说明书

技术领域

本实用新型涉及电工电子技术领域，尤其涉及一种针对微型测试接口测量的针形测量插头。

背景技术

随着科学技术的不断进步，电子产业发展迅速，电子领域更新换代的速度不断加快，电子元件等逐渐朝着微型高端的方向发展。现在的普通万用表测试笔头部过大，在实际操作中困难较大，无法直接对市场上的电器元件进行测量，另外，经过间接的方式测量会影响测量结果，造成测量结果不准确，无疑影响工作的效率，同时给人们的生产生活带来极大的不便之处。

发明内容

本实用新型的目的在于克服现有技术中存在的不足而提供一种针对微型测试接口测量的针形测量插头。

本实用新型的目的是这样实现的：一种针形测量插头，包括导线、与导线连接的握柄、设置在握柄前端且与导线连通的测试针，所述的握柄外壁上设置凹槽，凹槽中设置有针形触针，针形触针的大头端设置有与测试针前端直径相配合的盲孔，针形触针通过盲孔套装在测试针的前端。

所述的凹槽内壁设置凸起。

所述的针形触针的针头直径为0.1-0.5毫米。

本实用新型和现有技术相比：本实用新型的握柄上设置有针形触针，针形触针可以活动套装在测试针的前端，这样本实用新型可以满足对多种直径的测试接口的测量，具有测量结果精确、操作方便的优点。

附图说明

图1为本实用新型针形测量插头的结构示意图。

图中：1、导线  2、握柄  3、测试针  4、凹槽  5、针形触针  6、凸起。

具体实施方式

实施例1

如图1所示，一种针形测量插头，包括导线1、与导线1连接的握柄2、设置在握柄2前端且与导线1连通的测试针3，所述的握柄2外壁上设置凹槽4，凹槽4中设置有针形触针5，针形触针5的大头端设置有与测试针3前端直径相配合的盲孔，针形触针5通过盲孔套装在测试针3的前端。

本实用新型实施例1，在进行一般测量时，使用握柄2前端的测试针3，在对数字视频接口等微型测试接口测量时，将握柄2外壁凹槽4中的针形触针5取出，套装在握柄2前端的测试针3上，测量结束，将针形触针5重新固定在握柄2外壁的凹槽4中。

实施例2

如图1所示，一种针形测量插头，包括导线1、与导线1连接的握柄2、设置在握柄2前端、且与导线1连通的测试针3，所述的握柄2外壁上设置凹槽4，凹槽4中设置有针形触针5，针形触针5的大头端设置有与测试针3前端直径相配合的盲孔，针形触针5通过盲孔套装在测试针3的前端。凹槽4内壁设置凸起6。针形触针5的针头直径为0.1-0.5毫米。

本实用新型实施例2，在进行一般测量时，使用握柄2前端的测试针3，在对数字视频接口等微型测试接口测量时，将握柄2外壁凹槽4中的针形触针5取出，套装在握柄2前端的测试针3上，测量结束，将针形触针5重新固定在握柄2外壁的凹槽4中。