[实用新型]可调节高精度X射线测厚仪有效
| 申请号: | 201220002653.X | 申请日: | 2012-01-05 |
| 公开(公告)号: | CN202471024U | 公开(公告)日: | 2012-10-03 |
| 发明(设计)人: | 侯跃新;郑辉;梅雪松;李岩;李钢;肖丹;周冬亮 | 申请(专利权)人: | 黑龙江省科学院技术物理研究所 |
| 主分类号: | G01B15/02 | 分类号: | G01B15/02 |
| 代理公司: | 哈尔滨东方专利事务所 23118 | 代理人: | 陈晓光 |
| 地址: | 150001 黑龙*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 调节 高精度 射线 测厚仪 | ||
1.一种可调节高精度X射线测厚仪,其组成包括:连接架,其特征是:所述的连接架一端连接具有高性能X射线管的X射线发射装置,所述的连接架另一端连接具有高压放大电路板的X射线接收装置。
2.根据权利要求1所述的可调节高精度X射线测厚仪,其特征是:所述的X射线发射装置包括外箱体,所述的外箱体内装具有高压输出端的可调高压电源,所述的高压输出端通过导线连接X射线管的高压输入端,所述的X射线管的高压输入端装在X射线管上,所述的X射线管装在所述的外箱体内,所述的外箱体顶端具有发射窗,所述的外箱体底端具有外部供电航插,所述的外部供电航插连接所述的可调高压电源,所述的外部供电航插由外部提供+24V给高压电源。
3.根据权利要求1或2所述的可调节高精度X射线测厚仪,其特征是:所述的X射线接收装置包括铝箱体,所述的铝箱体内装有电离室屏弊桶,所述的电离室屏弊桶内具有电离室,所述的电离室连接高压放大电路板,所述的高压放大电路板通过导线连接低压外部供电航插,所述的铝箱体底部具有接收窗。
4.根据权利要求2所述的可调节高精度X射线测厚仪,其特征是:所述的高压电源受上位机控制,所述的高压电源给灯丝高压电源,所述的灯丝包含于X射线发生器内部,所述的X射线发生器连接X能谱硬化装置,X射线通过所述的X能谱硬化装置发射给X射线接受电离室,所述的X射线接受电离室连接前置放大电路,所述的前置放大电路连接所述的上位机。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于黑龙江省科学院技术物理研究所,未经黑龙江省科学院技术物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201220002653.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





