[发明专利]CT成像系统和方法有效

专利信息
申请号: 201210593047.4 申请日: 2012-12-31
公开(公告)号: CN103913472A 公开(公告)日: 2014-07-09
发明(设计)人: 沈乐;邢宇翔;李元吉;冯初晴;张丽;陈志强 申请(专利权)人: 同方威视技术股份有限公司;清华大学
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04;G01V5/00;A61B6/03
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 王波波
地址: 100084 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: ct 成像 系统 方法
【说明书】:

技术领域

发明的实施例涉及辐射成像,具体涉及一种CT成像系统和方法。

背景技术

传统单能、双能X射线成像通常利用闪烁体型探测器,所采集得到的信号反应了多色X射线的整体能量沉积量。由于能量沉积是对X射线能谱的能量加权积分,成像结果无法反映物质在某个能量下的衰减信息。

双能成像包括多能CT利用不同的X射线能谱进行成像,具有一定的物质区分能力,但由于其物理模型所限,成像结果具有一定系统误差,且X射线能谱之间总有一定重叠区域,影响了物质区分能力。

发明内容

针对现有技术中存在的能谱重叠影响了物质区分能力的技术问题,本发明的实施例提出了一种CT成像系统和方法。

根据本发明的一个方面,提供了一种CT成像系统,包括:X射线源,第一探测和采集装置,与所述X射线源相对设置,并且被配置为对被检查物体进行第一CT扫描,得到扫描数据;重建装置,配置为基于所述扫描数据重建第一分辨率的图像;第二探测和采集装置,至少包括光子计数探测器,并且配置为对从所述第一分辨率的图像中确定的感兴趣区域进行第二CT扫描,所述第二CT扫描包括利用所述光子计数探测器在多个能窗针对该感兴趣区域进行扫描,得到截断的能谱数据;其中,所述重建装置进一步被配置为使用第一分辨率的图像作为先验图像对截断的能谱数据进行补全,并且利用补全后的能谱数据重建比第一分辨率高的第二分辨率的图像。

根据本发明的另一方面,提供了一种CT成像方法,包括步骤:对被检查物体进行第一CT扫描,得到扫描数据;基于扫描数据重建第一分辨率的图像;从重建图像中确定所述被检查物体的感兴趣区域的位置信息;对所述被检查物体中的感兴趣区域进行第二CT扫描,所述第二CT扫描至少包括利用光子计数探测器在多个能窗针对该感兴趣区域进行扫描,得到截断的能谱数据;使用第一分辨率的图像作为先验图像对截断的能谱数据进行补全;以及利用补全后的能谱数据重建比第一分辨率高的第二分辨率的图像。

利用上述的技术方案,可进行高分辨率的能谱CT局部成像。此外,与传统双能CT系统相比,利用光子计数探测器,采集多个能窗的光子计数投影数据,可进行多个基函数的分解,使得能谱区分度高,数值稳定性好。

附图说明

下面的附图表明了本发明的实施方式。这些附图和实施方式以非限制性、非穷举性的方式提供了本发明的一些实施例,其中:

图1是描述根据本发明实施例的CT设备和方法中的第一CT扫描过程的示意图;

图2是描述根据本发明实施例的CT设备和方法中的第二CT扫描过程的示意图;

图3是描述根据本发明实施例的CT设备的结构示意图;以及

图4是描述根据本发明实施例的CT成像方法的过程的流程图。

具体实施方式

下面将详细描述本发明的具体实施例,应当注意,这里描述的实施例只用于举例说明,并不用于限制本发明。在以下描述中,为了提供对本发明的透彻理解,阐述了大量特定细节。然而,对于本领域普通技术人员显而易见的是:不必采用这些特定细节来实行本发明。在其他实例中,为了避免混淆本发明,未具体描述公知的电路、材料或方法。

在整个说明书中,对“一个实施例”、“实施例”、“一个示例”或“示例”的提及意味着:结合该实施例或示例描述的特定特征、结构或特性被包含在本发明至少一个实施例中。因此,在整个说明书的各个地方出现的短语“在一个实施例中”、“在实施例中”、“一个示例”或“示例”不一定都指同一实施例或示例。此外,可以以任何适当的组合和/或子组合将特定的特征、结构或特性组合在一个或多个实施例或示例中。此外,本领域普通技术人员应当理解,这里使用的术语“和/或”包括一个或多个相关列出的项目的任何和所有组合。

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