[发明专利]表面贴装微波器件S参数测试系统及测试数据校准方法

权利要求书

1.表面贴装微波器件S参数测试系统，其特征在于：它由四个S参数测试电路组成，每个S参数测试电路由功率检波器和模数转换器构成，被测表面贴装微波器件的输出分别与定向耦合器a、定向耦合器b相连，定向耦合器a和定向耦合器b的输入还分别与信号发生器相连接，定向耦合器a的两路输出分别依次通过功率检波器和模数转换器与中央控制器的输入连接，定向耦合器b的两路输出亦分别依次通过功率检波器和模数转换器与中央控制器的输入连接；

它还包括电压检测电路、电流检测电路和温度检测电路，电压检测电路、电流检测电路和温度检测电路的输入均连接被测表面贴装微波器件，电压检测电路、电流检测电路和温度检测电路的输出均通过模数转换器与中央控制器连接。

2.根据权利要求1所述的表面贴装微波器件S参数测试系统，其特征在于：它还包括一个用于对测得的S参数进行分析和计算的上位机，上位机通过总线与中央控制器相连。

3.表面贴装微波器件S参数测试系统数据校准方法，其特征在于：它包括混频器测试标量校准的步骤，所述的混频器测试标量校准步骤包括以下子步骤：

S11：确认校准状态：查看各个通道误差校正的进程，对于标量混频器适用的迹线则添加状态；

S12：使用机械校准套件进行校准，它包括以下步骤：

S121：启动频偏；

S122：选择要校准的通道；

S123：选择要校准的端口；

S124：选择测试端口，手动进行混频器标量校准；

S13：使用电子校准套件ECal进行校准，它包括以下步骤：

S131：启动频偏；

S132：选择要校准的通道；

S133：选择要校准的端口；

S134：选择测试端口，启动标量混频器校准；

S135：开启功率计和传感器；

S136：将所选测试端口连接到电子校准套件ECal，并将电子校准套件ECal通过USB接线连接至测试装置的USB接口； 

S137：计算校准系数，自动打开误差校正功能。