[发明专利]可控转接卡

说明书

技术领域

本发明涉及一种转接卡，尤其涉及一种应用于计算机主板上测试内存模组的可控转接卡。

背景技术

内存模组的应用测试一般都在计算机主板上进行，现有技术通过将固定电阻替换为滑动变阻器来调节电压，由于主板上固定的电阻尺寸很小，难于手工焊接替换，易于损坏主板并且测试是在稳定的电源电路调节电压，更改后的电压调节范围比较小，而且不稳定；在缺少主板电源电路原理图时，不能确定内存模组的电源反馈回路，从而不能对内存模组做确定工作电压范围的性能测试。虽然现在市面上由一种转接卡，主要用于内存模组的主板级测试，其主要作用是减少对主板内存卡槽的插拔次数，延长测试主板寿命，但其不具备电压调节功能。

发明内容

为了解决背景技术当中所存在的问题，本发明提出一种可控转接卡结构。可以实现转接卡的功能，同时电压调节可以不受主板回路限制。

本发明的技术解决方案是：

一种可控转接卡，其特征在于：包括设置在转接卡上的第一至六管角，还包括与第七、八、九管角依次连接的第一电压源、第二电压源、第三电压源；上述第一管角与第七管角连接，第三管角与第八管角连接，第五管角与第九管角连接。

上述第一管角与第二管脚连接，第三管角与第四管角连接，第五管角与第六管角连接。

上述第一管角与第二管角之间设置有电子开关，第三管角与第四管角之间设置有电子开关，第五管角与第六管角之间设置有电子开关。

本发明的优点是：

1.不需要对主板上的电路进行改变，减少了对主板的损害。

2.由于电压源是外接的，电压调节范围由外部设备决定，可选用高精度，宽范围的电压源，从而电压调节不受主板回路限制。

3.在缺少主板电路图时，依然可以对主板进行电压性能测试。

4.通过短接电路板，可以实现一般转接卡的功能。

5.通过在转接卡上添加开关控制，可以还原内存模组上电的真实应用测试。

附图说明

图1为本发明结构示意图；

图2为本发明添加电子开关的结构示意图；

图3为本发明第一、二管角相互连接，第三、四管角相互连接，第五、六管角相互连接的结构示意图。

其中1-第一管角，2-第二管角，3-第三管角，4-第四管角，5-第五管角，6-第六管角，7-第七管角，8-第八管角，9-第九管角，10-第一电压源，11-第二电压源，12-第三电压源，13-被测内存单元，14-转接卡，15-测试主板内存单元插槽，16-电子开关。

具体实施方式

参见图1以及图2，在内存模组的转接卡上，将电源电压和参考电压的连接线断开，用两个焊点分别连接断开的线的两端。两个焊点之间原来是一条导线将它们连接在一起，实现的是转接卡的功能。将连接线断开后，需要在电路板上增加三个焊点，也就是图2中的焊点7、8、9。这三个新增的焊点用来连接外接电源。可以看到管角2、4、6连接的是MOS-FET的栅极，而1、3、5连接的是源极，7、8、9连接的是漏极。由2、4、6来控制1与7，3与8，5与9之间的开关。即当2、4、6上有电压的时候，1与7，3与8，5与9之间导通，即内存供电；否则1与7，3与8，5与9之间关断，即内存掉电。当然这个MOS-FET也可以通过其他方式实现，例如电压控制的电子开关，或三极管搭建的模拟电路。

在对内存模组的电压性能进行测试时，将外接数字电源正极与图中的第一管角、第三管角、第五管角相连，由外部电压源来提供内存模组工作所需的电源电压和参考的电压。电源电压指的是内存条的主供电电压，英文代号是Vdd；参考电压指内存条上的参考电平，主要用于判断模拟电压值代表的是0还是1，比如，如果参考电压是0.75V，当输入电压为0.8V时，在内存条内部会认为这个输入电压代表的是数字1，同理当输入电压为0.6V时，内存条会认为这个输入电压代表的是数字0；电源电压和参考电压就是被测内存单元上所需要的电压；而被测内存单元指的就是主板的内存单元。

将转接卡上的第一管角与第二管角相连，第三管角与第四管角相连，第五管角与第六管角相连，即可防止在测试过程中，在主板插槽上频繁插拔损坏主板插槽。在内存转接卡上频繁插拔只是损坏转接卡，转接卡损坏后，直接换就可以，成本低。

在需要模拟真实的内存模组的电源上电情况时，可通过在电路板上添加电子开关，通过第二管角、第四管角、第六管角上的电压来控制电压源是否与第一、三、五管角导通。电子开关起到的作用是，模拟真实的内存上电过程。因为没加转接卡和数字电压源之前，内存由主板来供电。在添加转接卡和外接电源后，内存由外接电源供电，但这样做有一个问题，就是内存在主板没上电之前就可能已经上电了，这样做会导致测试过程中一些测试覆盖率丢失。所以通过主板上的内存部分的供电来控制电子开关的通断，从而可以控制接了转接卡的被测内存上供电的通断，从而真正实现内存上电过程与使用过程中一致。