[发明专利]一种平面碳膜电极的制备方法有效
申请号: | 201210556923.6 | 申请日: | 2012-12-18 |
公开(公告)号: | CN103072938A | 公开(公告)日: | 2013-05-01 |
发明(设计)人: | 王成;时康;康仁科;田中群;杨永学;单坤;张红万;周剑章;周平;詹东平;张艺程 | 申请(专利权)人: | 厦门大学;大连理工大学 |
主分类号: | B81C1/00 | 分类号: | B81C1/00 |
代理公司: | 厦门市首创君合专利事务所有限公司 35204 | 代理人: | 张松亭 |
地址: | 361000 *** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 平面 电极 制备 方法 | ||
1.一种平面碳膜电极的制备方法,首先将光刻胶均匀地旋涂在导电基体上,然后在一定压力的惰性气体的保护下,通过程序升温使光刻胶依次发生软化和碳化,并最终形成高面型精度的平面碳膜,最后用树脂封装制成大面积平面碳膜电极。
2.如权利要求1所述的一种平面碳膜电极的制备方法,包括如下步骤:
1)基体前处理:将表面粗糙度小于500nm的导电基体裁切到所需的大小和形状,通过浸酸除去其表面氧化层后,依次采用有机溶剂和超纯水超声清洗;
2)光刻胶旋涂:使用匀胶机将光刻胶旋涂在导电基体上,调节匀胶转速和匀胶时间,使光刻胶的厚度为2~100μm;
3)程序升温加热:将涂胶后的基体水平放入加热电炉炉腔内,并保持其水平状态;向炉腔内通入惰性气体,20min~60min后,开始程序升温加热,以去除光刻胶中的溶剂,以及使光刻胶在导电基体表面充分流动以形成高面形精度的平面,保持炉腔内惰性气体压力为1~20atm;随后在最高碳化温度下,保持60min~120min,直至光刻胶完全碳化;仍在惰性气体保护下冷却至室温,即制得高面形精度的平面碳膜;
4)电极封装:将步骤3)制得的平面碳膜与导线进行导电连接,并用不导电树脂封装,待树脂固化后,即制成高面形精度的平面碳膜电极。
3.根据权利要求1或2所述的一种平面碳膜电极的制备方法,其特征在于:
所述导电基体选自砷化镓片、玻璃碳片、石墨片、硅片、金属及其合金片中的一种。
4.根据权利要求1或2所述的一种平面碳膜电极的制备方法,其特征在于:
导电基体为规则的形状。
5.根据权利要求1或2所述的一种平面碳膜电极的制备方法,厚度为0.25mm~20mm。
6.根据权利要求1或2所述的一种平面碳膜电极的制备方法,其特征在于:导电基体的面积为9mm2~22500mm2。
7.根据权利要求2所述的一种平面碳膜电极的制备方法,其特征在于:步骤3)所述的程序升温的升温速率为5℃/min~20℃/min,最高温度为800℃~1100℃,并且在最高温度恒温60min~120min;且在90℃~110℃恒温30~60min,以除去光刻胶中的溶剂;并在150~300℃恒温60min~120min,以使得光刻胶层发生更更好的自流平作用。
8.如权利要求1或2所述的一种平面碳膜电极的制备方法,其特征在于:所述的惰性气体为氮气、氦气、氩气中的至少一种。
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