[发明专利]用于评估模拟数字转换器的完好性的装置及方法

说明书

相关申请的交叉引用

本申请要求2011年12月16日递交的第61/576,454号美国临时申请的权益并要求2012年12月6日递交的第13/707,107号美国申请的优先权，上述申请的公开内容在此通过引用全部并入。

技术领域

本文中公开的实施方式一般涉及用于评估关于测量高电压的模拟-数字转换器（ADC）使用的各种电子设备的完好性(integrity)的装置及方法。

背景技术

可能随时间发生关于与模拟数字转换器（ADC）相关联的各种部件的漂移。这样的漂移可能影响由ADC获得的各种示值读数的准确性并且普遍地需要关注。

颁予den Breejen的第6,445,315号美国专利提供了由在可能相关的多个通道中的分离的ADC收集的测量数据。在这种情况下，数据可以被传输到微控制器或可编程逻辑器件以用于集中式处理。ADC在不同通道中的增益和偏移，特别是其相对于彼此的漂移，是需要关注的问题。特别地，提供了一对精密电阻器以校准不同的通道。ADC可以是工厂校准的且该两个精密电阻器之间的比率储存在ADC内。ADC可以通过将其相对的增益与储存的电阻器比率相比来进行后期自校准。ADC中的一个的增益可以相对于另一个调整，以保持相对的增益校准。然而，对于特定的应用来说，绝对的增益是非校准的（因为电阻器是分离的），只有ADC之间的相对增益是相关的。

发明内容

提供了一种用于确定交通工具中的电子设备的完好性的装置。该装置包括可操作地耦合到高电压测量电路并耦合到模拟-数字转换器（ADC）的控制器。该高电压测量电路接收高电压信号并包括用于将高电压信号减小为合适的电压信号的至少一个受应力的电阻器（stressed resistor）。ADC用合适的电压在正常操作模式下执行测量，该测量表示高电压信号。控制器被配置成在校准模式下将校准电压施加到该至少一个受应力的电阻器。控制器还被配置成基于将校准电压施加到该至少一个受应力的电阻器来计算该至少一个受应力的电阻器的电阻值，以确定该至少一个受应力的电阻器是否处于受应力的状态下。

附图说明

本公开内容的实施方式在所附权利要求中被特别地指出。然而，通过结合附图参考下面的详细描述，各种实施方式的其它特征将变得明显并将被最佳地理解，在附图中：

图1描述了根据一种实施方式的用于评估关于ADC使用的各种电子设备的完好性的装置；

图2描述了根据另一种实施方式的用于评估关于ADC使用的各种电子设备的完好性的装置；

图3描述了根据另一种实施方式的用于评估关于ADC使用的各种电子设备的完好性的装置；

图4描述了根据另一种实施方式的用于评估关于ADC使用的各种电子设备的完好性的装置；

图5描述了根据一种实施方式的用于确定何时从正常操作模式进入校准模式中以评估关于ADC使用的各种电子设备的完好性的方法；以及

图6A-6B描述了根据一种实施方式的用于评估关于ADC使用的各种电子设备的完好性的方法。

具体实施方式

根据需要，本发明的详细实施方式在此公开；然而，应理解，公开的实施方式仅仅是可以以各种各样的且可选择的形式体现的本发明的示例。附图不一定是按比例的；一些特征可能被夸大或缩小以显示具体部件的细节。因此，在本文中公开的特定结构和功能细节不应解释为限制，而仅仅是用于教导本领域技术人员以各种方式实施本发明的代表性基础。

本公开内容的实施方式大体上为多个电路或其它电子设备而提供。对这些电路和其它电子设备的全部参考以及由每个提供的功能性并不意在被限制成只包含在本文中图示和描述的内容。虽然特定标号可能被分配给所公开的各种电路或其它电子设备，但是这样的标号并不意在限制用于这些电路和这些其它电子设备的操作的范围。这样的电路和其它电子设备可以基于期望的电气实现的特定类型而以任何方式彼此组合和/或分开。应认识到，本文中公开的任何电路或其它电子设备可以包括彼此共同作用以执行本文中公开的操作的任何数目的微处理器、集成电路、存储器件（例如，FLASH、RAM、ROM、EPROM、EEPROM或它们的其它合适的变化形式）以及软件。