[发明专利]一种直流合成场测量仪的校准装置有效
申请号: | 201210545586.0 | 申请日: | 2012-12-14 |
公开(公告)号: | CN102998649A | 公开(公告)日: | 2013-03-27 |
发明(设计)人: | 张建功;张业茂;邬雄;谢辉春;干喆渊;刘兴发;赵军;张泽平 | 申请(专利权)人: | 中国电力科学研究院;国家电网公司 |
主分类号: | G01R35/00 | 分类号: | G01R35/00 |
代理公司: | 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 | 代理人: | 潘杰;李满 |
地址: | 430074 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 直流 合成 测量仪 校准 装置 | ||
1.一种直流合成场测量仪的校准装置,其特征在于:它包括由下至上依次布置的直流场接地极(1)、直流场高压极(2)、控制极(3)和离子流极(4)、设置在直流场接地极(1)中部的校准孔(5)、设置在校准孔(5)下方的支持平台(13),其中,所述直流场接地极(1)和直流场高压极(2)之间设有第一绝缘支柱(6),直流场高压极(2)和控制极(3)之间设有第二绝缘支柱(7),控制极(3)和离子流极(4)之间设有第三绝缘支柱(8),所述直流场接地极(1)上还设有多个与直流场接地极(1)绝缘的离子流接受板(9)。
2.根据权利要求1所述的直流合成场测量仪的校准装置,其特征在于:所述直流场接地极(1)和直流场高压极(2)之间形成校准区,直流场高压极(2)和控制极(3)之间形成注入区,控制极(3)和离子流极(4)之间形成电荷产生区。
3.根据权利要求1或2所述的直流合成场测量仪的校准装置,其特征在于:所述直流场接地极(1)和直流场高压极(2)之间的间距为15cm~30cm,直流场高压极(2)和控制极(3)之间的距离为10cm~20cm,控制极(3)和离子流极(4)之间的距离为10cm~20cm。
4.根据权利要求1或2所述的直流合成场测量仪的校准装置,其特征在于:所述直流场接地极(1)为导电金属板,所述直流场高压极(2)和控制极(3)均为导电金属网,离子流极(4)为导电金属丝。
5.根据权利要求1或2所述的直流合成场测量仪的校准装置,其特征在于:所述校准孔(5)有两个,一个为正方形校准孔,另一个为圆形校准孔。
6.根据权利要求1或2所述的直流合成场测量仪的校准装置,其特征在于:所述离子流接受板(9)为铜板,所述离子流接受板(9)嵌入直流场接地极(1),使得离子流接受板(9)与直流场接地极(1)位于同一平面。
7.根据权利要求6所述的直流合成场测量仪的校准装置,其特征在于:所述离子流接受板(9)通过环氧树脂板(10)与直流场接地极(1)绝缘连接。
8.根据权利要求6所述的直流合成场测量仪的校准装置,其特征在于:所述离子流接受板(9)到直流场接地极(1)边缘的间距大于直流场接地极(1)与直流场高压极(2)之间的间距。
9.根据权利要求7所述的直流合成场测量仪的校准装置,其特征在于:所述离子流接受板(9)与直流场接地极(1)之间连接有电流表(11)。
10.根据权利要求1所述的直流合成场测量仪的校准装置,其特征在于:所述支持平台(13)为绝缘支持平台。
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