[发明专利]全反射X射线荧光光谱法测定润滑油中微量元素的方法无效

专利信息
申请号: 201210540031.7 申请日: 2012-12-14
公开(公告)号: CN103018266A 公开(公告)日: 2013-04-03
发明(设计)人: 王凯;闵红;秦晔琼;张继东 申请(专利权)人: 上海出入境检验检疫局工业品与原材料检测技术中心
主分类号: G01N23/223 分类号: G01N23/223
代理公司: 上海卓阳知识产权代理事务所(普通合伙) 31262 代理人: 曹翠娟
地址: 200135 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 全反射 射线 荧光 光谱 测定 润滑油 微量元素 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及润滑油中微量元素检测技术领域,具体地说,是一种全反射X射线荧光光谱法测定润滑油中微量元素的方法。

背景技术

润滑油是一种重要的石油产品,在机械制造、交通运输、石油工业等诸多领域中得到较为广泛的应用。润滑油中添加剂元素(Mg、Mo、Ca、Zn、Ba、P等)含量通常是油品质量和使用性能的重要指标之一,而润滑油中磨损和污染元素(Ni、Ti、Cr、Fe、Sn、Al、Mn、Si、Pb、Cu、Ag等)含量是监控润滑油使用性能和预测各种润滑机械故障的重要参数。测定润滑油中磨损金属的含量,可以准确地了解设备的运行状态和性能,油中所含金属显示机件磨损的严重程度,这对设备的保养、工作性能的评价至关重要。

目前,测定润滑油中微量元素常用的方法有AAS、ICP-OES、X射线荧光光谱法(XRF)、紫外可见分光光度法(UV)等,其中以AAS、ICP-OES使用最为频繁。一般样品分析前要经过灰化或者湿酸消解、微波消解等前处理过程,虽然也有报道利用乳化技术使润滑油样品与水形成均匀的乳浊液(详见:刘立行,赵丽,李萍.乳浊液进样—火焰原子发射光谱法测定润滑油中的钙、钡.分析化学,2000,28(8):1006-1009.),或者利用有机溶剂稀释润滑油样品后直接导入AAS、ICP-OES光谱仪进行分析(详见:Ricardo Q.Aucelio, Roseli Martins de Souza, Reinaldo Calixto de Campos,ect. The determination of trace metals in lubricating oils by atomic spectrometry. Spectrochimica Acta Part B, 2007, 62, 952-961.),但可能会遇到有机物分解时吸收较大能量,影响等离子体放电稳定,用作校准曲线的有机标准物要与样品匹配等问题。

现有技术中,检测润滑油中磨损及添加元素含量往往需要复杂的前处理过程,常用的分析测试技术耗时长、试剂耗量大、难以快速检测,因此,极其需要一种方便快捷、准确度高、灵敏度高的检测方法。全反射X射线荧光(TXRF)光谱法是利用原级X射线束能在样品表面产生全反射激发进行X射线荧光分析的方法。关于利用全反射X射线荧光光谱法测定润滑油中微量元素的方法,目前还未见报道。

发明内容

本发明的目的是针对现有技术中的不足,提供一种全反射X射线荧光光谱法测定润滑油中微量元素的方法。该方法直接回避了润滑油中微量元素常用检测方法的前处理过程,它可以实现无前处理,或者只需对样品进行适当的稀释,在样品中加入少量内标溶液就可直接检测,真正达到快速检测的目的。

为实现上述目的,本发明采取的技术方案是:

一种全反射X射线荧光光谱法测定润滑油中微量元素的方法,包括以下步骤:

(1)石英反射体的清洗;

(2)润滑油待测液的制备:精确称取润滑油样品并置于离心管中,在离心管中加入镓标准溶液作为内标溶液,振动混匀后待用;

(3)待测样片的制备:吸取硅醇溶液滴于石英反射体中心位置,60℃烘干并冷却,再吸取步骤(2)中所制备的润滑油待测液滴于石英反射体中心部位,在通风橱中自然干燥;

(4)测定:将步骤(3)中制备的待测样片放入全反射X射线荧光光谱仪的样品槽内进行测量;

(5)数据分析:根据各元素谱峰强度进行数据分析,计算得出各微量元素的含量。

所述的润滑油中微量元素包括钙、钛、钒、铬、锰、铁、镍、铜、锌、铅。

步骤(1)具体操作为:将石英反射体在硝酸溶液中浸泡24小时以上,然后超声20分钟,再煮沸硝酸溶液20分钟以上,将石英反射体转移至二次去离子水中,再煮沸10分钟,冷却后用二次去离子水冲洗干净。

所述的硝酸溶液是指体积百分比浓度为10%的硝酸溶液。

步骤(2)中所述的润滑油样品是指经过甲苯或二甲苯稀释过的样品。

步骤(2)中所述的镓标准溶液由二次去离子水或有机溶剂配制,浓度为30mg/L。

所述的有机溶剂是甲苯。

步骤(3)中所述的硅醇溶液的吸取量为10μL,所述的润滑油待测液的吸取量为10μL。

步骤(4)中所述的光谱仪的X光管工作电压为50kV,工作电流为750μA。

本发明优点在于:

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