[发明专利]短路检查方法

说明书

本发明提供用于检测沿着第一方向以及与所述第一方向相交的第二方向延伸的第一排线部和沿着所述第一方向或者所述第二方向延伸的第二排线部之间的短路缺陷的方法，其中该方法仅通过所述第二排线部的电位差来检测出所述第一排线部和所述第二排线部之间的短路缺陷。

技术领域

本发明涉及短路缺陷的检查方法、显示装置的短路缺陷的检查方法以及有机发光显示装置的短路缺陷的检查方法。

背景技术

近来，可携带的薄型平板显示装置逐步替代显示装置。在平板显示装置中，有机发光显示装置作为自发光型显示装置，不仅具有视角宽、对比度优异的优点，而且还具有响应速度快的优点，从而其作为下一代显示装置而受到瞩目。

有机发光显示装置包括中间层、第一电极以及第二电极。中间层包括有机发光层。当对第一电极和第二电极施加电压时，有机发光层产生可视光。

一方面，为了驱动有机发光显示装置而设置了多种排线。在上述的排线中，有一些排线互相重叠地设置在不同的层上。此时，若这些排线之间在重叠的区域发生短路缺陷时，需要对其进行修复。

然而，很难检查出这些被重叠的排线之间的短路缺陷位置。尤其，随着排线数量的增加以及排线形状的复杂性，给检查工作带来了局限性。

发明内容

本发明能够提供易于检查电短路缺陷的方法。

根据本发明的一方面，提供检测沿着第一方向以及与所述第一方向相交的第二方向延伸的第一排线部和沿着所述第一方向或者所述第二方向延伸的第二排线部之间的短路缺陷的方法，其中仅通过所述第二排线部的电位差来检测所述第一排线部和所述第二排线部之间的短路缺陷。

当所述第二排线部的两端以状态延伸时，将受电部件和供电部件分别连接在所述第二排线部的两端，并且向所述第二排线部中相邻的线依次施加电压，从而对连接有所述受电部件和供电部件的区域之间的电位差进行初次监控，进而可以检测出有缺陷的线。

将受电部件和供电部件分别连接在通过所述初次监控在所述第二排线部中被检测出有缺陷的线的两端，沿着所述有缺陷的线施加电压，从而对连接有所述受电部件和供电部件的区域之间的电位差进行再次监控，进而可以检测出缺陷位置。

当所述第二排线部以一端被浮动、另一端被连接的状态延伸时，将供电部件连接在所述第二排线部的浮动区域，将受电部件连接在所述第二排线部的连接区域，并且向所述第二排线部中相邻的线依次施加电压，从而对连接有所述受电部件和供电部件的区域之间的电位差进行初次监控，进而可以检测出有缺陷的线。

将供电部件连接在通过所述初次监控在所述第二排线部中被检测出有缺陷的线的浮动区域，将受电部件连接在所述有缺陷的线的连接区域，沿着所述有缺陷的线施加电压，从而对连接有所述受电部件和供电部件的区域之间的电位差进行再次监控，进而可以检测出缺陷位置。

根据本发明的另一方面，提供检测显示装置的短路缺陷的方法，用于检测第一排线部和第二排线部之间的短路缺陷，其中，所述显示装置包括：多个像素；所述第一排线部，与所述像素连接并沿着第一方向以及与所述第一方向相交的第二方向延伸；以及所述第二排线部，与所述像素连接，并且沿着所述第一方向或者所述第二方向延伸，其中仅通过第二排线部的电位差来检测第一排线部和所述第二排线部之间的短路缺陷。

所述第一排线部可以包括：第一电源供应线，沿着所述第一方向延伸，并且用于向所述像素供应电源；以及第二电源供应线，沿着所述第二方向延伸，并且用于向所述像素供应电源。

所述第一电源供应线和所述第二电源供应线可以呈网目状。

所述第二排线部可以是用于向所述像素供应扫描信号的扫描线。

所述第二排线部可以是用于向所述像素供应数据信号的数据线。