[发明专利]用于桥梁结构的非接触无损检测方法无效

专利信息
申请号: 201210519200.9 申请日: 2012-12-06
公开(公告)号: CN103017672A 公开(公告)日: 2013-04-03
发明(设计)人: 汪正兴;王翔;王波;荆国强;刘鹏飞;柴小鹏;方华兵;崔清强;高阳;赵建;潘立泉;李荣庆 申请(专利权)人: 中铁大桥局集团武汉桥梁科学研究院有限公司;中铁大桥局集团有限公司
主分类号: G01B11/16 分类号: G01B11/16;G01B11/03
代理公司: 北京捷诚信通专利事务所(普通合伙) 11221 代理人: 魏殿绅;庞炳良
地址: 430000 *** 国省代码: 湖北;42
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 用于 桥梁 结构 接触 无损 检测 方法
【权利要求书】:

1.用于桥梁结构的非接触无损检测方法,其特征在于,包括以下步骤:

在桥梁结构上确定检测部位,固定拍摄装置,在工程结构承受不同载荷时获取所述检测部位的参考灰度图像和目标灰度图像;

在所述参考灰度图像上确定一个要检测其位移的像素点(x,y),所述像素点(x,y)的灰度值为f(x,y),以所述像素点(x,y)为中心选取一个像素大小为(2M+1)×(2M+1)的参考模块,M在所述参考模块不超过所述参考灰度图像边界的范围内可以任意取值;

在所述目标灰度图像中任意选取一个大小同为(2M+1)×(2M+1)的目标模块,设所述目标模块中心像素点的坐标为(x’,y’),所述像素点(x’,y’)的灰度值为g(x’,y’);

根据以下相关函数作相关计算,在所述目标灰度图像上搜索所述目标模块,从而确定像素点(x’,y’)的坐标:

Cf,g=Σx=-MMΣy=-MM[f(x,y)-fmΣx=-MMΣy=-MM[f(x,y)-fm]2-g(x,y)-gmΣx=-MMΣy=-MM[g(x,y)-gm]2]2]]>

fm为所述参考模块区域中灰度的平均值,gm为所述目标模块区域中灰度的平均值,遍历整个所述目标灰度图像后,当相关系数Cf,g取最小值时,即可以确定所述目标模块,所述像素点(x’,y’)即可视为所述像素点(x,y)在所述目标灰度图像上的坐标,所述像素点(x,y)的位移即为像素距离W=(x’-x,y’-y);

将所述像素距离W转换为实际位移w:通过工程设计图纸可以确定所述待测部位的区域中两点之间的实际距离为h,所述参考图片中该尺寸的像素距离为H,标定参数k=h/H,所述标定参数的单位为mm/pixel,所述像素距离W乘以标定参数k即可得到实际位移w,w=k×W;

依次重复,可以算得全部像素点的实际位移,进而得出所述检测部位的结构形变。

2.如权利要求1所述的用于桥梁结构的非接触无损检测方法,其特征在于,所述拍摄装置为长焦镜头和CCD图像传感器且固定于支架上,拍摄时所述长焦镜头的轴线和所述检测部位表面法线的夹角为0°~10°,所述CCD图像传感器与计算机连接,所述长焦镜头拍摄参考图片和目标图片后,所述CCD图像传感器将其分别转换为所述参考灰度图像和目标灰度图像,所述相关函数的计算在所述计算机上完成。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中铁大桥局集团武汉桥梁科学研究院有限公司;中铁大桥局集团有限公司,未经中铁大桥局集团武汉桥梁科学研究院有限公司;中铁大桥局集团有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210519200.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top