[发明专利]基于FPGA的TDM链路自动化模拟方法及系统有效

专利信息
申请号: 201210490166.7 申请日: 2012-11-27
公开(公告)号: CN102983921A 公开(公告)日: 2013-03-20
发明(设计)人: 邱建峰;朱坚 申请(专利权)人: 盛科网络(苏州)有限公司
主分类号: H04B17/00 分类号: H04B17/00
代理公司: 苏州威世朋知识产权代理事务所(普通合伙) 32235 代理人: 杨林洁
地址: 215021 江苏省苏州市苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 基于 fpga tdm 自动化 模拟 方法 系统
【说明书】:

技术领域

发明涉及网络通信领域技术,尤其涉及一种基于FPGA的TDM链路交换、链路故障自动化模拟方法及相应的模拟系统。

背景技术

目前,国内外通信设备厂商生产的基于TDM技术的电路交换设备,为了验证其设备的功能和健壮性,通常需要在实验室里进行电路连接、切换等各种测试,以进行不同的组网测试,其中,测试方案通常包括检测设备处理电路异常的能力。

现有技术中,测试方案中的切换组网方式或模拟电路异常方式,一般是通过测试人员人工插拔E1线来实现。然而,人工模拟故障的方式不能做到全天24小时不间断的测试,并且,人工切换组网,在网络规模比较大的情况下,由于接口非常多,易因人为操作不当而出现问题,且出现问题后故障排查非常困难;更为重要的是,人工模拟电路故障不具有可重复性,且电路中断时间不能精确控制。

基于上述问题,非常有必要提供一种设备自动化测试方案。

发明内容

本发明所需解决的技术问题在于提供一种基于FPGA的TDM链路自动化模拟方法,整个模拟测试过程全自动完成,提高测试效率及精确性。

相应地,本发明还提供一种基于FPGA的TDM链路自动化模拟系统。

为解决上述技术问题,本发明所采取的技术方案为:

一种基于FPGA的TDM链路自动化模拟方法,其包括如下步骤:

S1、构建一包括控制单元、由所述控制单元控制的一主交换FPGA芯片、一个或多个与所述主交换FPGA芯片相连的分交换FPGA芯片、以及若干连接于所述分交换FPGA芯片的E1接口芯片的模拟装置,其中,所述E1接口芯片连接于外部被测E1链路;

S2、确定所需模拟的链路ID、及模拟动作,并由所述控制单元向主交换FPGA芯片发送相应的控制指令;

S3、根据所述控制指令,选定所需模拟的E1链路,并基于所选定E1链路进行相应模拟动作的模拟。

作为本发明方法的进一步改进,所述模拟动作包括链路故障模拟、链路中断模拟、链路不稳定模拟、不同链路切换模拟。

作为本发明方法的进一步改进,所述步骤S3包括:

根据控制指令,选定所需模拟的原本互相独立的两条E1链路,其中,每条E1链路上包括对应的一主交换FPGA芯片、一分交换FPGA芯片、一E1接口芯片;

将所选两条E1链路互连成一条链路。

作为本发明方法的进一步改进,在进行“链路中断模拟”时,由控制单元发送“断开链路”的指令给主交换FPGA芯片;在进行“链路不稳定模拟”时,由控制单元以一定间隔时间分别发送“断开”、及“重连”的指令给主交换FPGA芯片。

相应地,本发明提供的一种基于FPGA的TDM链路自动化模拟系统,其包括:一控制单元、由所述控制单元控制的一主交换FPGA芯片、一个或多个与所述主交换FPGA芯片相连的分交换FPGA芯片、以及若干连接于所述分交换FPGA芯片的E1接口芯片,其中,所述E1接口芯片连接于外部被测E1链路;所述控制单元用于确定所需模拟的链路ID、及模拟动作,并由所述控制单元向主交换FPGA芯片发送相应的控制指令;所述主交换FPGA芯片根据所述控制指令,选定所需模拟的E1链路,并基于所选定E1链路进行相应模拟动作的模拟。

作为本发明系统的进一步改进,所述模拟动作包括链路故障模拟、链路中断模拟、链路不稳定模拟、不同链路切换模拟。

作为本发明系统的进一步改进,该系统还具体用于:

根据控制指令,选定所需模拟的原本互相独立的两条E1链路,其中,每条E1链路上包括对应的一主交换FPGA芯片、一分交换FPGA芯片、一E1接口芯片;

将所选两条E1链路互连成一条链路。

作为本发明系统的进一步改进,于本系统中,在进行“链路中断模拟”时,由控制单元发送“断开链路”的指令给主交换FPGA芯片;在进行“链路不稳定模拟”时,由控制单元以一定间隔时间分别发送“断开”、及“重连”的指令给主交换FPGA芯片。

根据以上技术方案可以看出,由于本发明完全通过模拟装置来实现对TDM链路的模拟测试,其过程完全自动化完成,避免人工的参与,大大提高了测试效率,扩展测试的覆盖率,此外,使用本发明设备进行组网切换,能够在毫秒级内完成网络拓扑的切换,且基于预定义的多个网络拓扑,方便的进行任意切换,使用本发明设备模拟电路故障,中断精度可以达到毫秒级,测试精度及速度都大幅提升。

附图说明

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