[发明专利]PCB板测试用无间隙两段式结构

说明书

技术领域

本发明涉及一种PCB板测试装置，具体是涉及一种PCB板测试用无间隙两段式结构。

背景技术

PCB板在生产过程中需要经历很多环节，其中每个环节都需要进行相应的测试来检测产品的好坏，PCB板测试治具为PCB板的测试提供一个良好的平台，基本工作原理是利用将PCB板上的待测点与测试机中的对应点相连接，通过相应的程序来实现最终的测试。

真空治具是PCB板测试常用的治具，主要包括上、下模和底框三部分，上、下模主要包括上、下针板、上、下载板、探针组件及密封组件，底框内含界面版，上、下载板用于保护待测PCB板和导正测试针点，上、下针板用于固定加长探针和普通探针等探针组件，密封组件用于上下模结合时确保治具内部处于密封状态，上、下模的测试针点与界面板上的针点用导线连接，界面板上的针点再与测试机上的针点一一对应，但是，随着PCB板功能越来越强，线路结构也越复杂，需要测试的点也越来越多，而相应的真空治具的测试探针也越来越多，因此，经常会遇到一些测试过程中存在一些会干扰和不需测试的探针接触PCB板的情况，进而影响其他探针的测试结果，现有技术解决上述问题的方法是使用人工一一拔除这些干扰和不需测试的探针，再进行测试，需要时再重新插回去，这种方式会造成对产品测试的测试零件的含盖率不足，且在插拔探针过程中，容易使针套偏移，造成探针无法准备接触测试点，影响测试结果。也有采用两段式的测试治具，设置固定针板和活动针板，多次测试时始终接触到测试针点的探针设为固定探针，固定在固定针板上，在一些测试过程中会干扰的或不需测试探针设为活动探针，固定在活动针板上，通过调整活动针板相对测试点的距离来调整探针是否与测试点接触，从而一定程度上解决了测试过程中所有探针同时接触PCB板影响测试结果的问题，但是这种方式需要设置固定针板和活动针板，活动针板通过一定的驱动机构带动，这种结构较为复杂，实施起来带来很多不便。

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明提出一种PCB板测试用无间隙两段式结构，具有结构简单，便于操作实施的优点，且通过设置长、短探针结合挂钩机构的精确定位作用，可以精确控制真空放开时针板和载板间距离，从而能够确保在一次测试之后，按照测量要求很方便的将会干扰或不需测试的探针脱离，方便二次测试的进行，确保二次测试的结果，本发明只需一次吸真空过程即可完成PCB板两段式测试，因此，能够提高了测试效率，进而节省测试成本。

本发明的技术方案是这样实现的：

一种PCB板测试用无间隙两段式结构，以使用方向为基准，包括竖向由上而下顺序设置的上针板、上载板、下载板和下针板，所述上载板和所述上针板之间以及所述下载板和所述下针板之间具有供真空吸合的空间，所述上载板和所述下载板之间设置待测PCB板，对应待测PCB板上多次测试时始终需要探针接触的待测试针点，所述上针板上和所述下针板上分别竖向穿设有长探针，对应待测PCB板上多次测试时不需要探针始终接触的待测试针点，所述上针板上和所述下针板上分别竖向穿设有短探针，对应每一个探针，所述上载板和所述下载板上设有导正所述探针的探针通孔，真空吸合时，所述长探针和所述短探针能够穿过所述探针通孔同时触及所述待测试针点，另设有挂钩机构，所述挂钩机构能够在真空放开时仅使所述长探针穿过所述探针通孔触及所述待测试针点。

作为本发明的进一步改进，所述挂钩机构能够在真空放开时仅使所述长探针穿过所述探针通孔触及所述待测试针点的结构是：所述挂钩机构包括上挂钩组件、下挂钩和驱动机构，所述上挂钩组件包括上挂钩和与所述上挂钩联动设置的上载板挂钩，所述驱动机构固设在所述上针板上，所述上针板上固设有固定块，所述上挂钩组件中部与所述固定块铰连接，所述下挂钩与所述下针板固定连接，所述驱动机构能够驱动所述上挂钩组件使所述上挂钩的钩部朝向和脱离所述下挂钩的钩部，使所述上载板挂钩的钩部朝向和脱离所述上载板。

作为本发明的进一步改进，所述驱动机构为气缸。