[发明专利]PCB板测试用无间隙两段式结构有效

专利信息
申请号: 201210488552.2 申请日: 2012-11-26
公开(公告)号: CN103837818A 公开(公告)日: 2014-06-04
发明(设计)人: 肖秋生;郑建生 申请(专利权)人: 昆山威典电子有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 昆山四方专利事务所 32212 代理人: 盛建德
地址: 215343 江苏省苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: pcb 测试 间隙 段式 结构
【权利要求书】:

1.一种PCB板测试用无间隙两段式结构,其特征在于:以使用方向为基准,包括竖向由上而下顺序设置的上针板(1)、上载板(2)、下载板(3)和下针板(4),所述上载板和所述上针板之间以及所述下载板和所述下针板之间具有供真空吸合的空间(5),所述上载板和所述下载板之间设置待测PCB板(6),对应待测PCB板上多次测试时始终需要探针接触的待测试针点,所述上针板上和所述下针板上分别竖向穿设有长探针(7),对应待测PCB板上多次测试时不需要探针始终接触的待测试针点,所述上针板上和所述下针板上分别竖向穿设有短探针(8),对应每一个探针,所述上载板和所述下载板上设有导正所述探针的探针通孔,真空吸合时,所述长探针和所述短探针能够穿过所述探针通孔同时触及所述待测试针点,另设有挂钩机构(9),所述挂钩机构能够在真空放开时仅使所述长探针穿过所述探针通孔触及所述待测试针点。

2.根据权利要求1所述的PCB板测试用无间隙两段式结构,其特征在于:所述挂钩机构能够在真空放开时仅使所述长探针穿过所述探针通孔触及所述待测试针点的结构是:所述挂钩机构包括上挂钩组件、下挂钩(91)和驱动机构(92),所述上挂钩组件包括上挂钩(93)和与所述上挂钩联动设置的上载板挂钩(94),所述驱动机构固设在所述上针板上,所述上针板上固设有固定块,所述上挂钩组件中部与所述固定块铰连接,所述下挂钩与所述下针板固定连接,所述驱动机构能够驱动所述上挂钩组件使所述上挂钩的钩部朝向和脱离所述下挂钩的钩部,使所述上载板挂钩的钩部朝向和脱离所述上载板。

3.根据权利要求1所述的PCB板测试用无间隙两段式结构,其特征在于:所述驱动机构为气缸。

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