[发明专利]二次电源单粒子效应测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及电源单粒子效应测试技术领域，特别是涉及一种二次电源单粒子效应测试方法。

背景技术

公开号为CN102332307的中国专利申请中提出了一种测试SRAM型FPGA单粒子效应试验系统及方法，此测试系统包括：单片机处理器、RS232接口电路、USB接口电路、测试FPGA以及存储单元，可以用于SRAM型FPGA的配置存储器和BRAM的故障注入试验，实现SRAM型FPGA的单粒子功能中断检测、单粒子锁定检测和单粒子翻转检测，包括配置存储区、BRAM和触发器的单粒子翻转检测。

类似于上述测试系统的现有技术能够有效地检测出FPGA单粒子效应，但是并不能测试出单粒子对二次电源的影响，并且对于高密度的单粒子流也不能实现实时数据的输出。对于实时性要求高的场所，这种设计不能够满足实际需要。

发明内容

（一）要解决的技术问题

本发明首先要解决的技术问题是：如何设计一种能够灵敏地检测出单粒子对二次电源的影响的系统及方法。

（二）技术方案

为了解决上述技术问题，本发明提供一种二次电源单粒子效应测试方法，包括以下步骤：

S1、DSP处理模块在接收到控制信号之后，启动A/D转换模块和FPGA模块工作；

S2、A/D转换模块采集被测二次电源所输入的电压信号，并将采集到的电压信号进行模数转换后输入FPGA模块；所述被测二次电源所输入的电压信号由单粒子照射所触发；

S3、所述FPGA模块将接收到的电压信号进行处理，并根据处理后得到的信号判断被测二次电源所输入的电压信号是否有波动，若是，则将接收到的电压信号输入到DSP处理模块；

S4、DSP处理模块对接收到的信号进行处理之后发送给上位机进行显示。

优选地，在步骤S3中，若判断被测二次电源所输入的电压信号没有波动，则FPGA模块将接收到的电压信号进行阻断，不发送给DSP处理模块。

优选地，在步骤S3中，所述FPGA模块将接收到的电压信号进行处理，并根据处理后得到的信号判断被测二次电源所输入的电压信号是否有波动的步骤具体为：所述FPGA模块将接收到的电压信号通过编程转化为相应的整型数字信号，将所述整型数字信号与预设的电压值相比较，如果超过预设的电压值，则判定被测二次电源所输入的电压信号有波动。

优选地，步骤S4具体为：DSP处理模块将接收到的信号进行降速处理，并利用FIR滤波器对信号的噪声进行处理，然后发送给所述上位机，所述上位机通过编程将数据通过图形显示出来。

优选地，在步骤S4中，DSP处理模块利用FIR滤波器对信号的噪声进行处理后先输入到DSP处理模块的USB接口的缓冲区，在USB接口的缓冲区被数据填满后触发发送信号中断，然后再将处理后的信号向上位机的传送。

优选地，在步骤S4之后还包括：上位机发送结束信号给DSP处理模块，DSP处理模块接收到结束信号后，将控制关闭的信号输入到FPGA模块和A/D转换模块中，使FPGA模块和A/D转换模块结束工作，等待更换被测二次电源，待被测二次电源换完毕后，通过上位机对DSP处理模块重新发送控制信号，返回步骤S1。

优选地，所述DSP处理模块为TMS320C5535A10芯片。

优选地，所述FPGA模块为PS1SGX10C芯片。

优选地，所述A/D转换模块为ADC081000芯片。

（三）有益效果

上述技术方案具有如下优点：本发明所设计的方法能够有效地、灵敏地检测出高密度单粒子对二次电源的影响，并实时的将数据显示出来，可以给电源设计师提供具有参考数据。

附图说明

图1是本发明的方法总流程图；

图2是本发明的方法的详细流程图；

图3是本发明的系统结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例，对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明，但不用来限制本发明的范围。

如图1~图3所示，本发明提供了一种二次电源单粒子效应测试方法，包括以下步骤：

S0、在开始测试之前，先进行相应的初始化操作，上电后DSP处理模块、FPGA模块和A/D转换模块自动完成程序的加载和初始化；

S1、DSP处理模块在接收到控制信号之后，通过程序启动A/D转换模块和FPGA模块工作；