[发明专利]二次电源单粒子效应测试方法有效

专利信息
申请号: 201210483969.X 申请日: 2012-11-23
公开(公告)号: CN103837839A 公开(公告)日: 2014-06-04
发明(设计)人: 王群勇;阳辉;陈宇;钟征宇;白桦;陈冬梅 申请(专利权)人: 北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司
主分类号: G01R31/40 分类号: G01R31/40
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 王莹
地址: 100089 北京市*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 二次 电源 粒子 效应 测试 方法
【权利要求书】:

1.一种二次电源单粒子效应测试方法,其特征在于,包括以下步骤:

S1、DSP处理模块在接收到控制信号之后,启动A/D转换模块和FPGA模块工作;

S2、A/D转换模块采集被测二次电源所输入的电压信号,并将采集到的电压信号进行模数转换后输入FPGA模块;所述被测二次电源所输入的电压信号由单粒子照射所触发;

S3、所述FPGA模块将接收到的电压信号进行处理,并根据处理后得到的信号判断被测二次电源所输入的电压信号是否有波动,若是,则将接收到的电压信号输入到DSP处理模块;

S4、DSP处理模块对接收到的信号进行处理之后发送给上位机进行显示。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,在步骤S3中,若判断被测二次电源所输入的电压信号没有波动,则FPGA模块将接收到的电压信号进行阻断,不发送给DSP处理模块。

3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,在步骤S3中,所述FPGA模块将接收到的电压信号进行处理,并根据处理后得到的信号判断被测二次电源所输入的电压信号是否有波动的步骤具体为:所述FPGA模块将接收到的电压信号通过编程转化为相应的整型数字信号,将所述整型数字信号与预设的电压值相比较,如果超过预设的电压值,则判定被测二次电源所输入的电压信号有波动。

4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,步骤S4具体为:DSP处理模块将接收到的信号进行降速处理,并利用FIR滤波器对信号的噪声进行处理,然后发送给所述上位机,所述上位机通过编程将数据通过图形显示出来。

5.如权利要求4所述的方法,其特征在于,在步骤S4中,DSP处理模块利用FIR滤波器对信号的噪声进行处理后先输入到DSP处理模块的USB接口的缓冲区,在USB接口的缓冲区被数据填满后触发发送信号中断,然后再将处理后的信号向上位机的传送。

6.如权利要求1所述的方法,其特征在于,在步骤S4之后还包括:上位机发送结束信号给DSP处理模块,DSP处理模块接收到结束信号后,将控制关闭的信号输入到FPGA模块和A/D转换模块中,使FPGA模块和A/D转换模块结束工作,等待更换被测二次电源,待被测二次电源换完毕后,通过上位机对DSP处理模块重新发送控制信号,返回步骤S1。

7.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述DSP处理模块为TMS320C5535A10芯片。

8.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述FPGA模块为PS1SGX10C芯片。

9.如权利要求1~8中任一项所述的方法,其特征在于,所述A/D转换模块为ADC081000芯片。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司,未经北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210483969.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top